Technologieangebot Max-Planck-Innovation GmbH Amalienstr. 33 80799 Munich Germany Phone: +49 (89) 29 09 19 - 0 Fax: +49 (89) 29 09 19 - 99 [email protected] www.max-planck-innovation.de Analyse einzelner Zellen in photovoltaischen Solarmodulen (SCAM) Aktenzeichen: MI 1401-5299-WT-WA Schlüsselwörter Lock-in-Thermographie, Solarzellen, I-V-Charakteristik, DLIT, EL, Lokale Effizienzanalyse Hintergrund Diese Software beruht auf der Veröffentlichung "Quantitiative local current-voltage analysis and calculation of performance parameters of single solar cells in modules" von J. Bauer et al. [1]. Das Ziel ist die nicht-zerstörende und quantitative Analyse lokal aufgelöster Parameter einzelner Solarzellen in einem Modul. Die lokale Zellanalyse erfolgt durch die integrierte Funktionalität der "Local I-V 2" Software [2,3], die auf Dunkel-Lock-in-Thermographie (DLIT) beruht. In der Regel sind die Zellspannungen in einem Modul unbekannt, da dieses aus 60 bis 72 serienverschalteten Zellen besteht. Hier werden die Zellspannungen nach dem Verfahren von Köntges et al. [4] und Potthoff et al. [5] durch die Auswertung von Elektrolumineszenz (EL) Bildern berechnet, die an den gleichen Arbeitspunkten wie die DLIT-Bilder aufgenommen werden. Technologie Drei DLIT-Bilder, vier EL-Bilder und vier Thermographiebilder des Moduls werden unter Konstantstrom-Bedingungen gemessen, wobei die Stromwerte sich jeweils um einen Faktor zwei unterscheiden. Die DLITBilder werden von der Rückseite des Moduls durch das Backsheet aufgenommen. Diese Bilder und die Meßparameter werden in die Software eingeladen, die dann die EL-Bilder zu den gleichen Strömen auswertet, um die individuellen Zellspannungen zu jedem Strom zu berechnen und auf eine Nominaltemperatur von 25 °C zu korrigieren. Dann berechnet die Software, unter der Annahme eines homogenen lokalen effektiven Serienwiderstands in jeder Zelle, die StromSpannungs-Charakteristiken jeder Zelle und jedes Pixels im DLIT-Bild im Dunkeln und unter Beleuchtung. Diese Daten und die lokalen und globalen Erwartungswerte von Voc, FF und dem Wirkungsgrad können dargestellt und exportiert werden, siehe Fig. 1. Contact Dr. Wolfgang Tröger Phone: +49 (89) 29 09 19 - 27 [email protected] Fig. 1: Bildschirmfoto des Interfaces von SCAM. Eine genauere Beschreibung finden Sie im Handbuch. Preis Einzel-Lizenz für das Programm SCAM: EUR 700,00 Programm und Handbuch (als PDF und PostScript-Format verfügbar) werden Ihnen per E-Mail oder per Post als CD-ROM zur Verfügung gestellt. Literatur [1] J. Bauer, F. Frühauf, O. Breitenstein, Quantitative local currentvoltage analysis and calculation of performance parameters of single solar cells in modules, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 159 (2017) 8-19. [2] O. Breitenstein, Nondestructive local analysis of current-voltage characteristics of solar cells by lock-in thermography, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 95 (2011) 2933-2936. [3] O. Breitenstein, Local efficiency analysis of solar cells based on lock-in thermography, Sol. Energy Mater. Sol. Cells 107 (2012) 381-389. [4] M. Köntges, M. Siebert, D. Hinken, U. Eitner, K. Bothe, T. Potthoff, Quantitative analysis of PV-modules by electroluminescence images for quality control, in: Proceedings of the 24th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EUPVSEC), Hamburg, Germany, 2009, pp. 32263231. [5] T. Potthoff, K. Bothe, U. Eitner, D. Hinken, M. Köntges, Detection of the voltage distribution in photovoltaic modules by electroluminescence imaging, Prog. Photovolt.: Res. Appl. 18 (2010) 100-106.
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