2月6日（金） 数理情報工学科卒業研究発表会 N回検出テストのための ドントケア抽出に関する研究 日本大学生産工学部 数理情報工学科 細川研究室 4年 増井 陽亮 1 目次 背景・目的 ドントケア抽出 N回検出テスト N回検出テストのためのドントケア抽出 静的圧縮 実験結果 まとめ 2 背景 LSIの大規模化 縮退故障以外の故障が増加 ＊ブリッジ故障 ＊遷移故障 など 縮退故障以外の故障を検 出するために N回検出テスト生成法の登場 3 目的 N回検出テストパターン集合に 付加価値を与えたい ドントケア抽出を行いテストパターンに ドントケアを含ませる テストパターンの圧縮効率の向上 4 ドントケア抽出 ドントケア 0または1どちらをとってもよい値 Xと表記 5 N回検出テスト 回路中の各故障が異なるN個以上のテストパ ターンで検出されるテスト生成法 1 a 0 b h f 0 c 0/1 0/1 0 e 0/1 h f 1 c d/1 0 d 0/1 1 a 1 b i d/1 0 d 0/1 g 0/1 1 e 0/1 i 0/1 g 6 N回検出テストのためのドントケア抽出 N回検出テストパターン集合 N回検出テスト生成より生成されたテストパターンの 集合 N回必須故障 N個以下のテストパターンでのみ検出できる故障 (３回必須故障の場合： ３～１個のテストパターンで検出できる故障） 7 N回検出テストのためのX抽出1 (N = 2) 故障リスト a e i f g j b c h k d 回路図 t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 a/0, b/0, c/1 b/1, d/1 a/1, b/0, c/0, d/1 a/1, c/1 b/1, c/0, d/0 a/1, c/1 a/0, b/0, c/0, d/0 2回検出テストパターン集合 t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 abcd 1100 0010 0110 0100 0011 0101 1111 8 N回検出テストのためのX抽出2 (N = 2) 故障リスト 2回必須故障リスト a/0, b/1, d/0, d/1 a i e a/0, b/0, c/1 b/1, d/1 a/1, b/0, c/0, d/1 a/1, c/1 b/1, c/0, d/0 a/1, c/1 a/0, b/0, c/0, d/0 2回検出テストパターン集合 b c t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 f g j h k d 回路図 t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 abcd 1100 0010 0110 0100 0011 0101 1111 9 N回検出テストのためのX抽出3 (N = 2) 故障リスト 2回必須故障リスト a/0, b/1, d/0, d/1 a/0 1 1/0 a i e 1 0 f g j h 0 a/0, b/0, c/1 b/1, d/1 a/1, b/0, c/0, d/1 a/1, c/1 b/1, c/0, d/0 a/1, c/1 a/0, b/0, c/0, d/0 2回検出テストパターン集合 b c t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 k d 回路図 t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 abcd 1100 0010 0110 0100 0011 0101 1111 10 N回検出テストのためのX抽出4 (N = 2) 故障リスト 2回必須故障リスト a/0, b/1, d/0, d/1 a/0 1 1/0 a i e 1 X f g j h X a/0, b/0, c/1 b/1, d/1 a/1, b/0, c/0, d/1 a/1, c/1 b/1, c/0, d/0 a/1, c/1 a/0, b/0, c/0, d/0 2回検出テストパターン集合 b c t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 k d 回路図 t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 abcd 11XX 0010 0110 0100 0011 0101 1111 11 N回検出テストのためのX抽出5 (N = 2) 故障リスト 2回必須故障リスト a/0, b/1, d/0, d/1 a i e a/0, b/0 b/1, d/1 d/1 b/1, c/0, d/0 a/0, b/0, c/0, d/0 2回検出テストパターン集合 b c t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 f g j h k d 回路図 t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 abcd 11XX X010 XX10 XXXX X011 XXXX 1111 12 N回検出テストのためのX抽出6 (N = 2) 故障リスト 2回必須故障リスト a/0, b/1, d/0, d/1 未検出故障 ⇒ a/1, c/1 a i e a/0, b/0 b/1, d/1 d/1 b/1, c/0, d/0 a/0, b/0, c/0, d/0 2回検出テストパターン集合 b c t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 f g j h k d 回路図 t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 abcd 11XX X010 XX10 XXXX X011 XXXX 1111 13 N回検出テストのためのX抽出7 (N = 2) 故障リスト 2回必須故障リスト t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 a/0, b/1, d/0, d/1 未検出故障 ⇒ a/1, c/1 a i e a/0, b/0 b/1, d/1 d/1 b/1, c/0, d/0 a/0, b/0, c/0, d/0 c j h k d 回路図 t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 a/0, b/0, c/1 b/1, d/1 a/1, b/0, c/0, d/1 a/1, c/1 b/1, c/0, d/0 a/1, c/1 a/0, b/0, c/0, d/0 2回検出テストパターン集合 b f g 元の故障リスト t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 abcd 11XX X010 XX10 XXXX X011 XXXX 1111 0100 010X 14 N回検出テストのためのX抽出8 (N = 2) 故障リスト 2回必須故障リスト a/0, b/1, d/0, d/1 未検出故障 ⇒ a/1, c/1 a i e a/0, b/0 b/1, d/1 d/1 a/1, c/1 b/1, c/0, d/0 a/1, c/1 a/0, b/0, c/0, d/0 2回検出テストパターン集合 b c t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 f g j h k d 回路図 t1 t2 t3 t4 t5 t6 t7 abcd 11XX X010 XX10 0100 X011 010X 1111 15 静的圧縮 生成されたテストパターン集合に対する圧縮 t1 11XX t2 X010 t3 XX10 t4 0100 t5 X011 t6 010X t7 1111 t1’ 1111 t2’ X010 t3’ 0100 t4 X011 16 実験結果 対象回路 ISCAS’85ベンチマーク回路 テストパターン TetraMax 17 実験結果 回路名 検出回数 c499 c880 c1355 c1908 c7552 1 2 3 4 5 1 2 3 4 5 1 2 3 4 5 1 2 3 4 5 1 2 3 4 5 圧縮前 パターン数 圧縮後 パターン数 102 163 241 288 352 389 685 992 1306 1578 120 224 314 401 484 209 382 547 712 836 815 1477 2138 2825 3462 99 132 152 161 175 106 139 179 217 248 120 224 314 401 484 176 309 434 530 623 326 577 819 1072 1306 N回縮退故障 圧縮前の 圧縮後の 検出率(%) ドントケア抽出率（%） ドントケアの割合（%） 99.20 94.79 93.29 91.78 92.38 100.00 96.25 93.69 94.49 84.26 99.70 98.41 98.08 97.49 96.74 99.71 98.61 98.58 97.59 97.06 98.50 98.32 98.08 97.67 96.12 7.53 7.65 7.76 7.36 7.68 79.66 80.08 80.28 79.84 66.71 10.08 9.06 8.40 7.59 7.83 35.55 32.79 33.90 34.11 33.47 87.11 86.72 86.98 87.03 87.05 7.32 7.96 6.93 8.26 8.36 52.49 47.24 47.17 45.23 44.84 10.08 9.06 8.40 7.59 7.83 27.02 22.26 23.47 21.37 20.56 70.71 69.64 70.27 70.38 70.62 18 まとめ N回検出テストのためのドントケア抽出法を提 案した N回検出テストのためのドントケア抽出を行っ た結果、ドントケア抽出率が8~87%になった ドントケア抽出を行ったN回検出テストパター ン集合に静的圧縮を適用した結果、圧縮率は 3~84%になった 19
© Copyright 2024 ExpyDoc
