ドリフトチェンバーガス中における 電子の拡散 仁藤研究室 鈴木義秀 指導教官 仁藤修教官 発表日 2001年2月13日 研究目的 粒子の飛跡を再構成する中央飛跡検出器 位置分解能の精度を下げる要因 電子の拡散 位置分解能の限界を知るためには 単一電子の到達時間のばらつきを求める 原理・概念図 ドリフト領域 比例増幅領域 E(kV/cm) Window for55Fe Pin hole 500μm Sense wire -H.V. 銅板 +H.V. 実験手順 レーザー光によるイオン化よって 発生する初期電子数は? 5.9keV X線 紫外線 N2レーザー レーザー光の波形 波形の積分値を比較 55Feによる波形 レーザー入射による電子数がわかる 拡散測定用チェンバー Data acquisition system(DAQ) DAQとは? プログラムでモジュールを制御する データテイキングシステム TDCモジュール(時間情報) FADCモジュール(時間情報+ADC値) DAQの開発 CAMAC データテイキング (Background Job) プログラム (波形の出力画面) Display 共有メモリ Run number event数 threshold 55Feを用いての測定 55Feの崩壊によって発生するX線のエネルギー 5.90keV 1個の電子・陽イオン対を作るのに 必要な平均エネルギー He:C2H6=50:50‥‥33.4eV 初期電子数 約177 number of events senseH.V.= 1.8kV Att.= 35dB 積分値(ADCvalue) Background number of events Att.=35dB ・ ・ ・ 1/56.2に減衰 2550×56.2≒14300(ADCvalue) 14300÷177 ≒812(ADCvalue) 単一電子の波形 2550(ADCvalue) 積分値(ADCvalue) レーザーを用いての測定 Z. Y X X-stage (6posi. 5mm) N2Laser (λ=337nm) (E = 3.68eV) stop signal pulse height(ADCvalue) drift time(ns) number of events number of events drift time(ns) drift time(ns) 積分値(ADCvalue) pulse height(ADCvalue) drift time(ns) number of events number of events drift time(ns) drift time(ns) 積分値(ADCvalue) pulse height(ADCvalue) drift time(ns) number of events number of events drift time(ns) drift time(ns) 積分値(ADCvalue) 電場 時間測定分解能 結論 • 新しく開発したFADCを用いたDAQに よって、ノイズと信号を区別することが 可能となった。 • レーザーを5%まで弱めたことにより単 一電子に近い電子の到達時間のばら つきを求めることが出来た。 CAMACを通じモジュールを制御するコマンド • He:C2H6=50:50で出来る初期電子数約 177個 • Att.=35dB‥‥‥1/56.2に減衰 2550×56.2=143000(ADCvalue) 144310÷177 =812 (ADCvalue) 電子1個の波形の積分値
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