Charge Spread Measurement

Charge Spread Measurement
2007/5/22
Y. Sugimoto
KEK
Full-depletionの確認
• 表面照射型のS5466はピクセルの端で感度が上
がっているように見える（次ページ以降参照）
• したがって表面照射型との比較で全空乏化している
ことを確認するのは難しい
• そのかわりに、レーザー照射時のゲート電圧が+6V
と-7Vの場合の分布を比較する
– 変化がなければどちらの場合も全空乏化していると言える
– 変化があれば-7Vでは全空乏化していないが、+6Vでは何
とも言えない
S5466
Projection
S5466
Projection
S5466
Projection
S7170標準品
• 裏面照射、空乏層薄い
• S.N.; BF3-006
-7V
+6V
S7170 Deep2
• SN; FF16-011
-7V
+6V
S7170 SPL 15mm
• SN;11-12
-7V
+6V
S7170 SPL 24mm
• SN; 22-20
-7V
+6V
結論
• S7170-0909 SPL 24mmではレーザー照射時の
ゲート電圧が-7Vでも+6Vでも電荷の分布に違いは
無かった
• このことから、 S7170-0909 SPL 24mmはどちらの
動作条件においても全空乏化していると言える
• ローレンツ角の測定にはS7170-0909 SPL 24mmを
用いる（1Tで約2mmのずれが期待され、それは今
回見せたプロジェクションの分布において、1ピクセ
ル分のずれに対応する）

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