Astro-E2搭載X線CCD(XIS) BIチップにおける新しい解析法

Astro-E2搭載X線CCD(XIS) BIチップにおける
新しい解析法の構築および応答関数の作成
2005/3/29 天文学会春季年会＠明星大学日野キャンパス
山口弘悦、中嶋大、松本浩典、鶴剛、小山勝二（京都大学）、
松浦大介、宮内智文、勝田哲、東海林雅幸、並木雅章、
鳥居研一、林田清、常深博（大阪大学）、他XISチーム
FI CCD
軟X線
検出効率の比較
硬X線
BI
光電吸収
FI
BI CCD
軟X線
硬X線
FI : 表面の電極層
→ 低エネルギーX線を遮蔽
BI : 低エネルギーX線の
検出効率向上
イベント検出（Grade法）
Gradeの定義
波高値 (PH)
event th.
Grade 0
Grade 3
split th.
Grade 1
Grade 4
Grade 2
Grade 5
イベント中心ピクセル
：イベント中心ピクセル
：split th.を越えたピクセル
Grade0,2,3,4,6を
X線イベントとみなす
と
の波高値の合計 ≡ PHA
Grade 6 ‥ 四角とＬ字型
Grade 7 ‥ 2×2より大きく
広がったもの
一定のsplit th. でイベント抽出を行うと‥‥
Grade分岐比の
エネルギー依存性
split th.をエネルギーに
よって可変にする
Grade 7
Grade 0
エネルギーが高くなるほど
Grade7 の割合が増加
（特に高エネルギー側で）
検出効率が大幅に向上
応答関数
Line Profile
55Feのスペクトル
６成分モデル（ASTRO-Eの地上キャルで確立）
T1 : main peak
T2 : sub peak （split th.以下の電荷が周辺ピクセルに洩れた成分）
T3 : triangle （channel stopで吸収されたイベント；BIには不要）
T4 : constant （表面の不感層での部分吸収）
T5 : Si escape
T6 : Si-line （escapeした蛍光Si X線が十分遠くのピクセルで再吸収）
Radiative Auger Emission (RAE)
Kβ-X線が別の電子と
Compton散乱してから
放射される過程
Kβ
RAE
自由電子

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