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【学内用】共同利用機器一覧及び利用経費
管理部局
中央分析
センター
設置
地区
伊都
筑紫
装置名
走査型電子顕微鏡(SS-550)
電子線 3 次元粗さ解析装置(ERA-8900)
低真空高感度走査電子顕微鏡(SU3500)
大気圧走査電子顕微鏡(AeroSurf1500)
超高分解能電界放出型走査電子顕微鏡
(SU8000)
低真空分析走査電子顕微鏡(SU6600)
電界放出形走査電子顕微鏡(JSM-6701F)
粉末Ｘ線回折装置(MultiFlex)
全自動水平型多目的Ｘ線回折装置(SmartLab)
エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置
（EDX-7000）
Ｘ線分析顕微鏡(XGT-5000)
高分解能 3 次元 X 線 CT システム
(SKYSCAN1172)
フーリエ変換赤外分光光度計(FT/IR-620)
マルチチャンネル赤外顕微鏡システム
顕微レーザーラマン分光装置(ARAMIS)
自動薄膜計測装置(Auto SE)
誘導結合プラズマ質量分析装置
(Agilent 7500c)
誘導結合プラズマ質量分析装置
(Agilent 7700x)
示差熱熱重量同時測定装置(TG/DTA7300)
高感度示差走査熱分析装置(X-DSC7000)
高温型示差走査熱分析装置(DSC6300)
走査型プローブ顕微鏡(DimensionIcon)
3Ｄ測定レーザー顕微鏡(OLS4000)
フラットミリング装置(IM-3000)
イオンミリング装置(E-3500)
イオンコーティング装置(JFC-1600)
イオンコーティング装置(JFC-1600)
イオンスパッタ（MC1000）
カーボンコータ(SC-701C)
オスミウムコータ（HPC-1SW）
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECZ400)
超伝導核磁気共鳴吸収装置(JNM-ECX500)
超高感度示差走査熱量計(DSC6100)
高感度示差走査熱量計(DSC6220)
オージェ電子分光分析装置(JAMP7800F)
X 線光電子分光分析装置(AXIS165)
蛍光 X 線分析装置(PV9500)
四軸型自動 X 線回折計(CAD4)
光交流法比熱測定装置(ACC-1)
超伝導核磁気共鳴装置(Varian INOVA)
粒型測定システム(ELSZ-OS)
顕微赤外分光分析装置(MFT-2000)
赤外分光分析装置(FTIR4200 & IRT5000)
原子間力顕微鏡(Nano ScopeⅢa)
走査型プローブ顕微鏡(5500SPM)
超高圧物性測定装置
雰囲気中液体急冷装置(OH-SI)
高周波 2 極スパッタ装置(SPF-210HRF)
ラバープレス(W-R/P)
エネルギー分散型蛍光 X 線分析装置
(EDX-800)
設置場所
装置担当者
（内線）
分析依頼料金
利用料金
（円/件）
（円/時間）
W3-207
W3-207
W3-102
W3-102
6,700
12,300
7,000
6,300
1,100
1,100
1,600
1,500
W3-106
18,000
3,200
W3-103
W3-105
W3-202
W3-202
14,000
8,500
5,500
11,000
3,000
1,900
900
2,500
W3-203
4,300
2,600
W3-203
4,800
1,400
W3-201
26,000
2,200
W3-205
W3-205
W3-206
W3-206
4,600
9,000
16,000
5,000
700
2,900
5,000
900
W3-106
6,400
3,500
W3-106
8,500
5,600
W3-201
W3-201
W3-201
W3-201
W3-201
W3-103
W3-103
W3-105
W3-207
W3-102
W3-207
W3-102
W3-110
W3-110
中分-306
中分-307
中分-104
中分-103
中分-204
中分-205
中分-204
中分-102
中分-306
中分-306
中分-306
中分-201
中分-201
中分-207
中分-107
中分-107
中分-107
11,000
11,000
11,000
13,000
9,500
－
－
1,100
1,100
2,300
2,000
5,000
4,900
9,800
23,600
23,200
98,100
10,900
6,400
12,300
4,300
2,500
1,700
1,800
1,800
1,800
2,500
2,100
1,100
1,100
700
700
1,500
1,600
5,800
1,100
1,500
3,000/件
2,000/件
1,500/件
3,800/件
1,100/件
520/件
1,700/件
1,500/件
12,000/件
2,200/件
1,500/件
600/件
3,800
1,800
中分-207
渡辺助教
(90-2857)
三浦助教
（93-7214）
工学
研究院
農学
研究院
伊都
箱崎
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AV300M)
超伝導核磁気共鳴吸収装置(AVANCE500)
単結晶高速Ｘ線構造解析装置
(SMART APEX CCD ｼｽﾃﾑ)
W3-109
W3-109
高性能Ｘ線光電子分光解析装置(ESCA5800)
W3-112
レーザーラマン分光光度計(NRS-3100KK)
W3-114
超高分解能走査型電子顕微鏡(S-5200)
W3-104
レーザーラマン分光光度計(NRS-2000)
紫外・可視・近赤外分光光度計
(SolidSpec-3700DUV)
近赤外蛍光分光装置(NanoLOG-EXT)
全自動水平型多目的 X 線回折装置(SmartLab)
W3-114
動的二次イオン質量分析装置
W3-212
原子吸光分光光度計(AA-7000)
W3-512
磁化率測定装置(MPMS-XL7TZ)
CE61-102
差動型高温示差熱天秤(TG-DTA2020SA)
W2-1001
電界放出型走査電子顕微鏡(S-4300SE）
EN41-105
高速液体クロマトグラフ質量分析計
(LCMS-IT-TOF)
レーザーイオン化飛行時間質量分析装置
(AXIMA-CFR plus)
セルアナライザー Sony EC800
セルソーター Sony SH800
共焦点・超解像顕微鏡
次世代シーケンサー
総合理工
学研究院
筑紫
TCS SP8 STED
MiSeq
筑紫
農 4-108
農 7-209
農 5201-3
農 7-209
表面形状測定装置(DEKTAK3)
中分-202
レーザーラマン分光光度計(NRS-2000)
中分-307
電界放射走査型電子顕微鏡(JSM-6340F)
中分-201
レーザーラマン分光装置(Nanofinder 30)
産学連携
センター
先導物質
化学研究
所
W3-612
W3-115
中分-307
FT ラマンシステム
偏光変調高感度反射フーリエ赤外分光
システム
X 線回折計(Rigaku RINT2200)
蛍光 X 線分析装置(Rigaku ZSX-miniX)
筑紫
W3-115
ICP 発光分析装置(SPS1700HVR)
蛍光寿命測定装置
応用力学
研究所
W3-204
EPMA 電子マイクロアナライザー
真空紫外分光光度計(VUV-2000)
山田准教授
(90-2832)
森川助教
(90-2834)
榎本准教授
(90-2860)
白木助教
(90-2841)
藤ヶ谷准教授
(90-2842)
田中教授
(90-2878)
久保田助教
(90-2808)
稲垣助教
(90-3522)
小宮助教
(90-3431)
森川助教
(90-2952)
赤坂技術職員
（99-2899）
松永技術職員
（99-2851）
鵜木技術職員
（99-2896）
奥川技術職員
（99-2861）
河村技術職員
（99-2822）
永長准教授
(93-7525)
大瀧教授
(93-8835)
橋爪准教授
(93-7544)
島ノ江教授
(93-7876)
総理工
A-405
総理工
C-206
総理工
C-107
総理工
C-203
応力研材
料実験棟
EPMA 室
産学ｾﾝﾀｰ
4F
筑紫
透過型電子顕微鏡(JEOL JEM-2100XS)
小野助教
(90-2830)
先導研
南-209
藤田准教授
(93-7531)
永長准教授
(93-7525)
吾郷准教授
(93-7817)
松原技術職員
(93-7760)
藤野教授
(93-8773)
梅津技術職員
田中（雄）
技術職員
(93-8898)
1,500
1,500
1,100
940
36,000
3,200
24,000
2,200
4,900/時間
2,300
－
1,700
－
3,300
－
1,200
－
－
1,000
2,300
56,000
－
－
6,300
－
540
－
2,900
－
2,000
10,000
－
2,100
－
10,000
10,000
1,800
1,800
－
1,500
－
250
-
7,400/件
-
2,000/件
-
850/件
-
4,000/件
-
1,500/件
-
1,500/件
-
1,500/件
-
7,000/件
20,000/件
-
8,400/件
47,000
-
-
5,000/件
25,000
-
核磁気共鳴装置(JEOL JNM-ECA600)
固体高分解能核磁気共鳴装置
(JEOL JNM-ECA400)
核磁気共鳴装置(JEOL JNM-LA400)
電子共鳴装置(JEOL JES-FA200)
二重収束質量分析計(JMS-700)
コールドスプレーイオン化飛行時型
質量分析装置(JMS-T100CS)
超高輝度 CCD 単結晶 X 線構造解析装置
(Varimax (Mo))
X 線単結晶構造解析装置(R-AXIS RAPID(Cu))
マトリックス支援レーザー脱離イオン化
飛行時間型質量分析計(JMS-S3000)
超強力単結晶構造解析システム(FR-E+)
高輝度広角 X 線回折システム薄膜解析部
(RINT-TTRⅢ)
高輝度広角 X 線回折システム熱量同時評価部
(SmartLab)
高分解能小角散乱装置(NANOSTAR)
伊都
比較社会
文化研究
院
NMR
解析棟
先導研
南-401
先導研
南-215
先導研
南-401
西技術補佐員
(93-8898)
田中（雄）
技術職員
(93-8898)
先導研
北-421
松本技術職員
(93-8898)
先導研
南-215
先導研
北-421
権藤技術職員
(93-8898)
先導研
北-205
超高感度測定用 NMR 装置(AVANCEⅢ 600)
CE41-107
高分解能二重収束質量分析装置(JMS-700)
CE41-110
Ｘ線回折装置(RINT-2100V)
比文・
言文-702
伊都
出田技術職員
(93-8898)
松本技術職員
(93-8898)
矢沢技術職員
（90-6214）
岡崎技術職員
（90-6219）
桑原准教授
（90-5654）
7,700
-
22,000
-
1,100
-
4,500
1,900/件
4,500
-
3,200
-
53,000
-
42,000
-
3,100
-
41,000
-
20,000
-
27,000
-
33,000
-
6,900
840
4,600
－
3,700/件
24,000

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