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Beste Aussichten
auf einen interessanten
Prüftechnologie-Tag 2016
14. Juni 2016 · Technorama Winterthur
Technologie-Seminar für Produktivitätssteigerung und
Qualitätsgewinn durch geeignete Prüfmethoden
A O I · AX I · AXO I · B ST · F KT · F PT · I CT · I B V · SP I
www.adt.ch
ad+t AG
Automated Design + Test
AUDI TO R I U M FACH VORTR ÄGE
08:15 – 09:00
09:00 – 09:30
Registrierung / Kaffee
Teststrategien Heute und Morgen
Strategien für den Test von Baugruppen
Marco Weidmann, ad+t AG
09:30 – 10:00
AOI
Multispektral – Multidimensional – Multimodular
Alles im Lot bei Stecker und Pins?
3D-Vermessung von Taumelkreis und Setztiefen
Jens Mille, GÖPEL electronic GmbH
10:00 – 10:30
FKT/ICT
easyGEN – In-Circuit Test in TestStand ohne Kompromisse
Einfache Erweiterung der Prüftiefe Ihres FKT mit einem hochwertigen ICT
Luca Bischof, ad+t AG
10:30 – 11:00
11:00 – 11:30
ICT
Pause
FailSim – signifikante Erhöhung der Testqualität
Verifizierung des ICT-Test auf Fehlererkennung
Martin Bader, Digitaltest GmbH
11:30 – 12:00
BST
JULIET Tester
Dynamischer-Mixed-Tester und ISP für Prototyping und Produktion
Georg Kohler, ad+t AG
12:00 – 12:30
SPI
3D-Inspektion von Lot- und Sinterpasten
Prozessoptimierung im Focus
Jörg Schambach, GÖPEL electronic GmbH
12:30 – 13:30
13:30 – 14:00
AXOI
Lunch
Kombination 3D-Röntgen- (AXI) und AOI-Inspektion in der Serie
Von der Consumer-Elektronik bis zur Medizintechnik
Andreas Türk, GÖPEL electronic GmbH
14:00 – 14:30
FPT
Wirtschaftlicher Einsatz von Flying Probe
Adapterloses Testen
Erik Horn, Digitaltest GmbH
14:30 – 15:00
BST
Embedded System Access (ESA)
Neue Dimensionen des Testzugriffs mit IP-basierender Technologie
Jan Heiber, GÖPEL electronic GmbH
15:00 – 15:30
15:30 – 16:00
PXI
Pause
Validierung und Verifizierung mit der NI-Plattform
Schlüsselelemente einer erfolgreichen Standardisierung von Prüfmittel
Sascha Egger, National Instrument
16:00 – 16:30
FKT
alphatester-CUBE
Die neue Definition eines Cubes
Marco Weidmann, ad+t AG
16:30 – 17:30
Apéro
Gemütliches Ausklingen des Technologietages
17:30 Ende Prüftechnologie Tag
Partnerfirmen:
Digitaltest GmbH
•ICT – Multifunktions-Test-System
•FPT– Flying-Probe-Tester
GÖPEL electronic GmbH
•AOI– 3D Automatische Optische Inspektion
•AXI – 3D Automatische Röntgen-Inspektion
•SPI – 3D Lotpasten-Inspektion
•BST– JTAG/Boundary Scan Test
National Instruments
• FKT – LabVIEW / TestStand
•FKT– PXI-Module
F OYER WORK SH OP
08:15 – 17:30 Live Demos und Beratung zu Ihren Applikationen
AOI • Automatische Optische Inspektion
Demo und Beratung • Vario Line 3D / 2D / 360° Inline-System
zu Ihren Applikationen
• Basic Line 2D / 360° Stand-Alone System
• Vorführung neue Pilot-AOI-Systemsoftware
• Applikation: Prüfprogramm Konvertierung Pilot5 zu Pilot6
Applikations-Experten
• Thomas Hessland, GÖPEL electronic GmbH
• Marco Weidmann, ad+t AG
SPI • 3D-Lotpasten-Inspektion
Demo und Beratung • Vorführung der Pilot-SPI-Software mit Offline-Daten
zu Ihren Applikationen Algorithmik zur 3D-Messwertbestimmung
• SPC zur Echtzeitüberwachung des Druckprozesses
• Pilot-CONNECT-Vernetzung von AOI, AXI, SPI
Applikations-Experten
• Dr. Jörg Schambach, GÖPEL electronic GmbH
• Marco Weidmann, ad+t AG
AXI/AXOI • 3D-Röntgen-Inspektion
Demo und Beratung • Vorführung der Pilot-AXI-Software mit Offline-Daten
zu Ihren Applikationen
• Applikationsbeispiele: Zinndurchstieg THT,
Voiding unter QFN, BGA-Prüfung
• TopoVIEW – perspektivische Darstellung von Fehlerbildern
Applikations-Experten
• Andreas Türk, GÖPEL electronic GmbH
• Marco Weidmann, ad+t AG
BST • JTAG Boundary Scan Test
Demo und Beratung • JULIET Demo
zu Ihren Applikationen
• Paralleler Nutzentest und Programmierung mit VarioTAP
• CION-LX mit TOC (Test on Chip)
Applikations-Experten
• Jan Heiber, GÖPEL electronic GmbH
• Georg Kohler, ad+t AG
ICT • In-Circuit-Test / Flying-Probe
Demo und Beratung • FailSim – Beispiele an Demo System
zu Ihren Applikationen
• CITE – Prüfprogramm-Erstellung leicht gemacht
• EasyGEN – APG-Transfer zu TestStand und LabVIEW
Applikations-Experten
• Martin Bader, Digitaltest GmbH
• Luca Bischof, ad+t AG
FKT • alphatester Funktionstest-System
Demo und Beratung • Vorführung – Kombitest FKT / ICT / BST
zu Ihren Applikationen
• Möglichkeiten mit der Power-Control Unit (PCU)
• AlphatesterCONNECT – optimiertes Kontaktierungskonzept
Applikations-Experten
• Christian Bäumli, ad+t AG
• Luca Bischof, ad+t AG
Anmeldung zum Prüftechnologie-Tag 2016 im TECHNORAMA Winterthur
Melden Sie sich an: per E-Mail [email protected] oder per Fax +41 44 937 53 10
(die Teilnahme ist kostenlos).
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Abteilung
Strasse/Nr.
PLZ/Ort
Telefon
E-Mail
Prüftechnologie-Tag 2016
14. Juni 2016 · Technorama Winterthur
Technologie-Seminar für Produktivitätssteigerung und
Qualitätsgewinn durch geeignete Prüfmethoden
Das sollten Sie nicht verpassen:
• Fachvorträge zu den verschiedenen Methoden zur Prüfung von elektrischen Baugruppen
• Workshops zu den verschiedenen Prüfmethoden mit Live-Vorführung
• Praktische Tipps und Tricks zu Ihrer individuellen Anwendung
• Nutzen Sie das Know-how der verschiedenen Referenten und informieren Sie sich zum
Thema Mess- und Prüftechnik
• Treffen Sie Geschäftspartner zum Erfahrungs- und Ideenaustausch und knüpfen Sie neue Kontakte
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nQualitätsmanagement
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Tel. +41 44 937 52 80
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