H28年度前期・分析基礎セミナー開催予定

H28年度前期・分析基礎セミナー開催予定
名称
テーマ
日程
内容
第100回
実用機器分析【1】走査電子顕微鏡
2016/4/27
SEM
第101回
実用機器分析【2】物性測定の基礎と応用
2016/5/26
天秤、pH、熱分析
第102回
実用機器分析【3】X線分析の基礎と応用
2016/6/9
粉末X線回折、薄膜X線回折
第103回
実用機器分析【4】分光分析の基礎と応用
2016/6/23
紫外・可視・蛍光分光、赤外分光、ラマン分光
第104回
実用機器分析【5】無機元素分析の基礎と応用
2016/7/7
原子吸光、ICPMS、蛍光X線分析
第105回
実用機器分析【6】表面分析の基礎と応用
2016/7/21
XPS,AES,EPMA,GDS
第106回
実用機器分析【7】NMR/質量分析の基礎と応用
2016/9/15
NMR、質量分析
参加費は無料です。学内外どなたでもご参加できます（事前の登録必要）。

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