Test von Schaltungen und Systemen - Informatik - FB3

Prof. Dr. Rolf Drechsler, [email protected], MZH 3510
Dr. Stephan Eggersglüß, [email protected], MZH 3470
Dipl.-Inf. Kenneth Schmitz, [email protected], MZH 3480
5. Übungsblatt zur Vorlesung
Test von Schaltungen und Systemen
Aufgabe 1
Betrachte folgenden Schaltkreis
i1
c
i2
i3
a
o1
b
d
o2
i4
Gegeben seien die Pfade
P1 = i1 , c, o1
P2 = i2 , a, c, o1
P3 = i3 , a, d, o2
und die Pfadverzögerungsfehler P1f , P2r , P3f . Hierbei steht Pxr für eine steigende Flanke und Pxf für eine
fallende Flanke.
Berechne jeweils einen robusten sowie einen nicht-robusten Test für die gegebenen Fehler.
Aufgabe 2
Betrachte den Schaltkreis aus der vorherigen Aufgabe. Gegeben sei der Fehler a s-a-0 und das zugehörige Testmuster T.
T = i1 = 0, i2 = 1, i3 = 1, i4 = 1
Nutze die beiden aus der Vorlesung bekannten Verfahren (mit und ohne Ausnutzung lokaler Don’t
Cares) zur Verbesserung der Kompaktheit des Testmusters.
Wieviele verschiedene Testmuster über 0,1,X können aus dem Testmuster T abgeleitet werden?
1
Aufgabe 3
Betrachte folgenden Schaltkreis:
Transformiere diesen Schaltkreis in einen Multiplexer-Schaltkreis.
Die Lösungen werden am 08.01.2015 in der Übung diskutiert.
2

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