反射率測定装置 SGRM‐200N 微小領域､曲率面の分光反射率測定を実現します｡ 曲率を持ったレンズや機能性シートなどの極薄試料も､裏面反射光の影響を受けずに 高速･高精度な分光反射率測定が可能です｡ • 特殊ハーフミラーにより､試料からの反射光を効率良く分光器に取り込み､低反射率でも短時間測定が可能となりました｡ • 特殊ハーフミラーで裏⾯からの反射を阻⽌していますので､試料裏⾯の処理無しで正確な測定が可能です｡ (薄板t=0.3mmの反射率測定が可能:×20倍対物レンズ使⽤時) • 特殊ハロゲンランプと独⾃の光学設計により､光量を最⼤限に⾼めており､スピーディで再現性の⾼い測定が可能です｡ • 試料⾯の微⼩領域(φ50μm)を測定するため､レンズ曲⾯及びコーティングムラも測定可能です｡ • 省スペースで測定可能なコンパクト設計です｡ • Microsoft Excel®形式でのデータ保存が可能です｡ • 同⼀画⾯上に複数の測定結果の表⽰(重ね書き)が可能ですので､測定結果の⽐較が容易です｡ 測定結果表⽰イメージ 反射率測定 透過率測定 ⾊度測定 品番 価格[¥] 測定波⻑ 試料側N.A. 試料の測定範囲 試料の曲率半径 測定再現性 表⽰分解能 測定時間 外形⼨法(本体) 使⽤温度範囲 使⽤湿度 膜厚測定 SGRM-200N 5,500,000 380〜1050nm 0.22(10x対物レンズ使⽤時) 0.44(20x対物レンズ使⽤時) 約φ25μm(20x対物レンズ使⽤時) -2R〜-∞,+2R〜∞ ±0.2%(380〜450nm) ±0.02%(451〜950nm) ±0.2%(951〜1050nm) 1nm 数秒(サンプリング時間による) 270(W)×465(D)×615(H)mm(突起部を含まず) 18〜28℃ 60%以下(結露なきこと) http://www.global-optosigma.com/ 反射率測定装置 SGRM‐200N 対物レンズ(標準添付品) (オプション) 10倍対物レンズ UPLFLN 10x 20倍対物レンズ LUCPLFLN 20x 1.25倍対物レンズ PLAPON 1.25x 測定範囲:φ50μm 薄板:0.4mm 測定範囲:φ25μm 薄板:0.3mm 測定範囲:φ400μm 標準⽩⾊板 波⻑校正板 WS-3(オプション) V-30(オプション) ※キャリブレーションデータ付 スーパーCマウント ズームアダプタ 200万画素USBカメラ NY-CZ(オプション) SKDCE-3(オプション) ※⾊測定時の基準 (x0.35〜x0.7) 反射率計測ソフトウェア:SGRMCS(標準添付品) • 薄型ターゲットの⾼精度測定(ソフト+ハード) • 測定データの重ね書き(最⼤64回) • Microsoft®Excelシートへのデータ落し込み機能 • 合否判定機能組込(波⻑1nm毎に判定基準設定可能) • 膜厚測定機能(単層膜厚のみ) 保守部品(標準添付品) ハロゲンランプ(5個パック) PCL919SMR02VN 低反射率リファレンス板 球⾯平凹レンズ SLB-50-70N ⾼反射率リファレンス板 アルミ平⾯ミラー TFA-50C08-1 重量：3kg(ケーブル類含まず) 重量：13kg(ケーブル類含まず) http://www.global-optosigma.com/ 東京本社／営業部 東京都墨⽥区緑1-19-9 TEL.03-5638-6551 / FAX.03-5638-6550 E-mail [email protected] ⼤阪⽀店 ⼤阪市淀川区⻄中島4-9-28 TEL.06-6307-4835 / FAX.06-6307-4834 E-mail [email protected] 九州営業所 福岡市博多区⽐恵町3-17 TEL.092-481-4300 / FAX.092-481-4310 E-mail [email protected] SGRM-200N-J1603
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