2014 年度第 7 回 LSI テストセミナー

2014 年度第 7 回 LSI テストセミナー
日時：2015 年 3 月 18 日（水）9 時～21 時 30 分
場所：電気ビル共創館 3 階カンファレンス E
〒810-0004 福岡市中央区渡辺通 2 丁目 1 番 82 号
TEL:
0120-222-084
9 時 00 分～9 時 30 分
受付・オープニング
温暁青（九州工業大）
9 時 30 分～10 時 05 分
超微細 CMOS プロセスにおける論理回路の温度電圧特性について
○西田敏也，三宅庸資，梶原誠司，佐藤康夫（九工大）
10 時 05 分～10 時 40 分
テスト容易化機能的時間展開モデル生成法
○増田哲也，西間木淳，細川利典（日本大），藤原秀雄（大院大）
10 時 40 分～11 時 15 分
FPGA における温度影響補正を伴うオンチップ遅延測定の検討
○三宅庸資．安部賢太朗，梶原誠司，佐藤康夫（九工大）
11 時 15 分～11 時 50 分
必須割当て情報を用いた SAT ベーステスト生成高速化の評価
○日下部建斗，山崎紘史，細川利典（日本大）
，山崎浩二（明大）
11 時 50 分～13 時 00 分
休憩
13 時 00 分～13 時 35 分
FPGA テストのための耐ソフトエラーLFSR
○上田大樹，大竹哲史（大分大）
13 時 35 分～14 時 10 分
FPGA テストのための耐ソフトエラーMISR
○嶋津大地，大竹哲史（大分大）
14 時 10 分～14 時 45 分
複数同時故障検出用テスト生成を用いたツーバイワンによるテスト圧縮法
○原侑也，平井淳士，細川利典，新井雅之（日本大），吉村正義（京産大）
14 時 45 分～15 時 20 分
SAT based ATPG およびテストパタン最小化のヒューリスティックに関する実験・評価
○松永裕介（九大）
15 時 20 分～15 時 30 分
休憩
15 時 30 分～16 時 05 分
製造過程でのトロイ回路混入を検知用回路に関する考察
○吉村正義（京産大）
16 時 05 分～16 時 40 分
マルチサイクルキャプチャテスト集合を用いた万能論理故障モデルの故障診断法
○高野秀之，山崎紘史，細川利典（日本大），山崎浩二（明大）
16 時 40 分～17 時 15 分
非遷移信号線に基づくトロイ回路検出法
○坊屋鋪知拓，細川利典（日本大）
，吉村正義（京産大）
17 時 15 分～17 時 50 分
Memory-Aware Logic Simulation Algorithms
○Jin Miyazaki, Stefan Holst, and Xiaoqing Wen（九工大）
17 時 50 分〜18 時 00 分
18 時 00 分〜18 時 30 分
休憩
18 時 30 分～21 時 30 分
LSI テストに関する討論
諸連絡

Download Report