世界最高水準の「微粒子可視化技術」を出展します

「エヌプラス ~新たな価値をプラスする材料と技術の複合展」出展のお知らせ
会
期:2015 年 9 月 30 日(水)~10 月 2 日(金) 10:00~17:00
会
場:東京ビッグサイト(東京都江東区有明 3-11-1)
出展場所:西 2 ホール
No.2S-02
U R L:http://www.n-plus.biz
(※上記 URL のトップページより事前来場登録をすることができます)
世界最高水準の「微粒子可視化技術」を出展します
微粒子可視化システム:Type H
クリーンルーム歩行時の発塵
ハンドドライヤ使用時の
飛散ミスト
表面付着粒子
調理中の油煙
集塵性能の確認
エアフィルタの性能
微粒子可視化システムによる撮影事例(当社ホームページに動画が掲載されています)
当社の微粒子可視化システムは、超高感度カメラと独自開発のレーザ光膜生成技術を組み合わ
せた、0.1マイクロメートルの浮遊微粒子を映像化できる世界最高水準の可視化装置です。
国内外にて、システム販売のほか、システムを利用した受託サービス(工場内の微粒子や気流の
可視化調査、製造装置の内部や周辺のクリーン度評価、各種設備性能の評価など)を展開中です。
本展では、機材や各種ソフトウェア、多数の撮影事例動画を展示し、実際に可視化をご体感いた
だけるようにデモンストレーションを実施いたします。また、今年販売を開始し、多方面よりご好評を
いただいております新しい可視化ツールも展示いたします。この機会に是非会場でご覧ください。
<本件に関する問い合わせ先>
ビジュアルソリューション事業部
Tel: 03-3639-2206
E-mail: [email protected]
URL: http://www.snk.co.jp/particle