KIT - 梶原・温研究室

梶原・温研究グループ
温研究室
研究テーマ紹介
専門分野=LSIテスト
テスター
(1台数千万~1億円以上)
テスト入力
LSI集積回路
プローブカー ド
プローバ
製造 LSI設計データ
期待応答
ソケットボード
ハンドラ
比較
実応答
良否判定
(数秒~数十秒以内で行なわなければならない)
良品出荷
不良品破棄
不良品が混じっていれば
良品が混じっていれば
あぶない
もったいない
(市場信頼性を失う)
(価格競争力を失う)
低消費電力テスト技術の必要性
豊富な機能
Test
機能動作時
Function
3x~8x
Call Cam
TV
売れる
VLSI製品
テスト時
Call Cam
Dramatic Power Increase
Mail
低い消費電力
TV
Mail
Heat Damage・ Malfunction
低い機能動作電力
高いテスト電力
(Few Active Blocks)
(Many Active Blocks)
低電力設計
テストの危機
(Undue Yield Loss)
低電力テスト
クールなVLSI製品
国内外で高く評価された研究成果
KIT
①
Right-Power Test
KIT
①
②
クロックスキュー
削減技術
Right-Power Test
②
KIT
KIT
KIT
KIT発技術
世界的な研究ブームの
火付け役に
KIT
低キャプチャ
電力
テスト技術
KIT
低電力
ATPG
技術
第1世代技術
2005
KIT
Pinpoint型
高精度低電力
テスト技術
テスト電力
安全性保証型
技術
論文賞受賞
2007
IEEE Fellow受賞
専門書出版
第2世代技術 第3世代技術
2006
IEEE TTTC
所属の専門技術
活動委員会を
設立、標準化へ
Gated-Clock
利用型低電力
テスト技術
テスト品質
保証型低電力
テスト技術
2008
2009
クロックスキュー
削減技術
第4世代技術
2010
2011
第5世代技術
2013
研究テーマ (LSIテスト 関係)
1. 
スマートフォン用LSI回路のための低消費電力テスト 生成技術に関する研究開発
2. 
心臓ペースメーカー用LSI回路のための極低電力埋め
込み自己テスト技術に関する研究開発
3. 
車載用LSI回路のための高精度故障診断技術に関す
る研究開発
研究テーマ (医工連携関係)
1. 
ウェアラブルIT技術と東洋医学の融合による脈診シス
テムの研究開発
2. 
歩行リハビリ支援のためのスマート杖の研究開発
温研の特徴
発想力
実現力
表現力
国際力
温研の特徴
発想力が育つ
温研の特徴
実現力が育つ
温研の特徴
表現力が育つ
温研の特徴
国際力が育つ
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