ソフトウェア 測定・解析ソフトウェア WinSPM System 測定ソフトウェア 測定ソフトウェアでは、複雑になりがちなマルチモード SPM の操作を簡便に行うために、見やすくレイアウトされたソフトウェア画 面を始めとして、様々な工夫を施しています。また、表面加工専用モードも装備しており、画像・スペクトルの測定だけに留まらない、 多様なオペレーションを自在に行うことが可能です。 ー測定までの 4 ステップー 1.測定モードを選択 2.カンチレバ調整 3.試料へアプローチ 4.測定開始 標準で全測定モードをサポート！ 自動発振調整機能で簡単！ クリックのみで自動アプローチ！ 画像・ SPS 測定が自由自在！ 表面加工 マルチモード SPM 測定 全ての測定モード＊を標準でサポート 画像測定・ SPS 測定・ SPS マッピング測定 ＊ 4、5 ページ参照 描画 表面加工 プローブを測定面内で移動させ、表面加工・測定が可能 ベクトル・トレース・マッピング加工およびライントレース測定 Si 表面に陽極酸化で描いた 操作補助機能 フィードバックリファレンス値換算表示（nA/nN/Hz） AC-AFM 用カンチレバ発振自動調整機能 NC-AFM 用カンチレバ発振自動調整機能 SKPM 測定自動調整機能 8 モナ・リザ（3 × 3 μ m2）
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