Agilent Technologies UHS-II 物理層試験ソリューション アジレント・テクノロジー株式会社 アプリケーション・エンジニアリング部 坂田 健 15min UHS-II Test Guideline To support adoption & improve interoperability, SD Association developed “UHS-II Test guideline” along with “UHS-II Spec”.Dedicated verification tools, 3rd party test houses services are available. Agilent UHS-II物理層ソリューション が対応している測定方法 “SDA PHY Test Guidelines” UHS-II Specifications Part 1 UHS-II PHY Test Guidelines UHS-II Specifications Part 1 UHS-II Protocol Test Guidelines Version 1.00 Version 1.00 Test Specification for: Part 1 UHS-II Addendum Version 1.01 Technical Committee SD Card Association Test Specification for: Part 1 UHS-II Addendum Version 1.01 Technical Committee SD Card Association UHS-II Test Guideline 物理層測定・三分野 Rx “ジッタ耐性 UHS-II Host TX RCLK+ RX UHS-II Card Host Synchronous OSC PHY/Logic 8b/10b PLL PLL SER RX DES D0RX DES D0+ D1D1+ TX SER 8b/10b 10b/8b Link Layer RCLK- TX 十分か？” Link Layer 良いか？ PHY/Logic 10b/8b Tx “信号品質 Return Loss “Tx/Rxポート正しく終端されているか？” “Test Fixture” と測定器を使った“単体測定” Device Test Fixture D0 D1 Host Test Fixture PWR 3.3V 1.8V GND RCLK RCLK D0+/- D0+/D1+/- D1+/VDD1.8V/3.3V Available from Astek or Bitifeye http://newweb.astekcorp.com/ Model#:SKU: A9-UHS2-03 SKU: A9-UHS2-01 VDD1.8V/3.3V RCLK “Loop Back Modeで測定を行う” Host接続例 N4880A Clock Multiplier Host RCLK TX N4903B JBERT OUTIN CLK PLL TX 10b/8b PHY/Logic 8b/10b Link Layer OSC NO SSC Loop Backed PRBS SER 測定フロー 1: DUTをLoop backに設定 2: DUTへTest patterns入力 3: DUT Tx Signal を計測器へ Data Out CLK In RX DES TTC150ps Tx Test : オシロとプローブ PRBS with Jitter Rx Test : JBERT Error Detector Return Loss: ネットアナ UHS-II 用の終端プローブ Tx測定 UHS-II DC coupled, Diff 100ohm 終端 Test Equipment High Rx Z 100nF C 50Ω 50Ω Tx InfiniiMax High Z Differential - Open Probe AMP + - + Probe Head Probe AMP - + + - Open + Probe Head InfiniiMax InfiniiMax Single Ended & Common Mode E2695A InfiniiMax SMA Probe Head N6461A Agilent Infiniiumオシロ90000シリーズ用 UHS-II Card&Host Tx 自動測定アプリケーション Pass/Fail & レポート自動生成 DUT type選択 Test項目選択 接続図による確認 RUN TEST Rxの物理性能評価とは？ Jitterや低振幅など、シビアな信号でも受信できるか？ TX 1000010…… 1001010…… Bit Error 検出 Loop Back たたき直し RX N4903B JBERT Jitter印可Bit Error Ratio試験機 1001010…… RJ+SJ+ISI N5990A#120 Valiframe UHS-II Host/Device Rx 自動測定ソリューション Pre-Calibration at the Connector End Connection diagram Test Automation Total Jitter （UI） Device & Host Rxの性能 “評価” Jitter 周波数・振幅をスイープし境界測定 ジッタ・トレランスカーブ評価 自動測定 Sinusoidal Jitter Frequency （Hz） なぜ Return Lossは重要なのか? LSI内部終端は理想的でなく信号は反射する。 終端 ネットワークアナライザで何が見えるのか？ Reflection (dB) Impedance (ohm) Time(sec) = location FFT Frequency (Hz) Agilent E5071C ENA Opt TDR / Return Loss 試験 インピーダンスとS-Para 一台で同時測定 Diff TDR / Debug Debug play zone S-parameter Test with Pass/Fail Limit UHS-II Agilent 物理層測定ソリューション SDA UHS-II PHY Test Guidelineに沿った測定を提供 オシロスコープ Device Tx試験 Data信号品質 Device Rx試験 Data受信耐性 Host Tx試験 RCLK信号品質 Data信号品質 Host Rx試験 Data受信耐性 RCLK受信耐性 JBERT BER試験機 ネットワークアナライザ Device Return Loss試験 Txポート 差動Spara Rxポート 差動Spara Host Return Loss 試験 Txポート 差動Spara Rxポート 差動Spara UHS-II Agilent 物理層測定ソリューション Tx 90000Aオシロ Rx N4903B JBERT UHS-II UHS-II ジッタ耐性自動測定 信号品質自動測定 UHS-II Host TX RCLK+ RX UHS-II Card OSC SER RX DES D0RX DES D0+ D1- TX SER D1+ Return Loss E5071C ENA opt TDR ネットワークアナライザ Z/Spara測定 Link Layer TX PHY/Logic 10b/8b PHY/Logic 8b/10b PLL PLL 8b/10b 10b/8b Link Layer RCLK-
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