放射光XAFS，Cs-STEM - メルコセミコンダクタエンジニアリング

最先端分析（放射光ＸＡＦＳ，Ｃｓ-ＳＴＥＭ）
大型放射光施設を利用した分析が可能。
収差補正ＳＴＥＭより原子レベルの観察および分析が可能。
どちらの分析も大気非暴露分析が可能。
（最先端分析） XAFS＋HD2 7 0 0
メルコセミコンダクタエンジニアリング(株) お問い合わせ先：ＴＥＬ（０９２）８０５−３８３４ＵＲＬ：ｈｔｔｐ：//ｗｗｗ．ｍｓｅｃ-ｍｅｌｃｏ．ｃｏ．ｊｐ
■三元系正極のＸＡＦＳ分析
Ｍｎ-ｋＸＡＮＥＳスペクトル
Ｎｉ-ｋＸＡＮＥＳスペクトル
-充電状態
-放電状態
Ｍｎ-ｋＸＰＳスペクトル
-充電状態
-放電状態
Ｃｏ-ｋＸＡＮＥＳスペクトル
-充電状態
-放電状態
Ｎｉ-ｋＸＰＳスペクトル
-充電状態
-放電状態
-充電状態
-放電状態
Ｃｏ-ｋＸＰＳスペクトル
-充電状態
-放電状態
・ＸＰＳでは充放電に伴うＭｎ，Ｎｉ，Ｃｏの状態変化を捉える事が出来なかったが，ＸＡＮＥＳスペクトルでは
■三元系正極のＣＳ-ＳＴＥＭＥＥＬＳ分析
充電に伴う状態変化が確認された。（ピークが高エネルギー側にシフト⇒価数の増加を確認）
ＸＡＦＳは金属の僅かな構造変化を捉える事が出来ます。
■三元系正極のＣｓ-ＳＴＥＭ／ＥＥＬＳ分析
ＤＦ-ＳＴＥＭ像
１ｎｍ
Ｏ-Ｋ
Ｍｎ-Ｌ
Ｃｏ-Ｌ
Ｎｉ-Ｌ
ＥＥＬＳカラムマッピング
構造モデル
・ＥＥＬＳカラムマッピングによって，Ｎｉ，Ｍｎ，Ｃｏ及び酸素から成る層状岩塩構造を確認した。
・高分解能ＥＥＬＳ分析により，活物質表層∼内部におけるＭｎの価数変化（２価∼４価）を確認した。
Ｃｓ-ＳＴＥＭは原子の直接観察（散乱電子の格子像撮影）や高分解能ＥＥＬＳを
取得出来ます。

Download Report