Dr. Helge Ewers (ETH Zurich, Swiss)

基盤医学特論
Special Lecture Tokuron
Dr. Bruno Humbel
(University of Lausanne, Switzerland)
“Focussed Ion Beam Scanning Electron Microscopy in Biology”
日時：4月17日（木）午後５時, 17th April (Thu) 17:00 ~
場所：医学部基礎研究棟会議室1（学務課前）、
Meeting room1, Building for Medical research
言語：英語、English
「集束イオンビーム-走査型電子顕微鏡(FIB-SEM)」は2光子顕微鏡の開発で知
られるWinfried Denk博士が近年開発した「ブロック表面連続観察走査型顕微鏡」の
応用型で、近々、名古屋大学医学部・共通研究機器センターでの共同利用が開始
されます。この顕微鏡は従来の透過型電子顕微鏡法による超薄切片(50 nm厚)の
観察に比べて、高いZ軸方向の分解能 (2 nm厚)を持ち、広範囲(100 um四方)の微
細構造情報を自動で取得することが可能なことから、細胞や生体組織の3次元微
細構造情報を高分解能且つ簡便に取得できる方法として注目されています。
Humbel博士は、スイス・ローザンヌ大学の電子顕微鏡部門のディレクターとして
活躍している研究者です。博士は常に最新の電子顕微鏡技術を取り入れながら、
様々な生物の微細構造観察と分子構造解析について研究を推進され、現在、FIBSEMの応用にも精力的に取り組まれています。
そこで今回、博士の来日に合わせてセミナーをお願いしました。本セミナーでは、
博士の研究施設で行われているFIB-SEMを用いた研究の現状と応用例、技術的な
ノウハウについてご説明いただく予定です。皆様のご参加をお待ちしています。
ヒト臍帯内皮細胞内の滑面小胞体（緑）とミトコンドリア（黄）のネットワーク構造
A
※本講義は大学院基盤医学特論の一つとして開催されます。
This course is a Kibanigaku Tokuron Course.
※ 事前登録の必要は有りません。
No. registration required.
B
問い合わせ先：分子細胞学教室
深澤有吾（内線2001）

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