平成27年度 Nanotech CUPAL NIPコース コース番号 産総研 FY2015_AI001 FY2015_AI002 FY2015_AI003 FY2015_AI004 FY2015_AI005 FY2015_AI006 NIMS FY2015_NI001 FY2015_NI002 FY2015_NI003 FY2015_NI004 FY2015_NI005 FY2015_NI006 コース名 募集人数 実施型 TCAD実習初級コース TCAD実習中級コース MEMSスキルアップコース MEMSキャリアアップコース SCR 超微細加工プロセスコース MEMS 2週間コース 20 3 3 2 3 5 《短期型》 《短期型》 《中長期・集中型》 《中長期・集中型》 《短期型》 《短期型》 先端計測技術入門コース(TEM) 先端計測技術上級コース(TEM) TEM/STEM観察・分析技術 収差補正TEM/STEM技術 STEM-EDS/EELS分析技術 先端計測技術入門コース(表面解析) 超高真空走査型トンネル顕微鏡の初歩 表面分析の初歩 走査型ヘリウムイオン顕微鏡の初歩 先端計測技術上級コース(表面解析) 極高真空低温SPM法 表面解析PEEM/MEEM法 Heイオン顕微鏡 先端計測技術入門コース(構造解析) X線・中性子粉末構造解析法の初歩 小角X線散乱計測法の初歩 X線反射率法の初歩 核磁気共鳴実験の初歩 先端計測技術上級コース(構造解析) 小角/極小角X線散乱法 薄膜・多層膜X線反射率法 固体NMR計測法 40 6 《短期型》 《中長期・分散型》 45 《短期型》 6 《中長期・分散型》 60 《短期型》 8 《中長期・分散型》 10 3 《短期型》 《中長期・分散型》 KEK FY2015_KE001 放射光利用技術入門コース FY2015_KE002 放射光利用技術上級コース 筑波大学 FY2015_UT001 放射線計測実習コース 陽電子消滅 メスバウアー分光 FY2015_UT002 高機能ナノ微細加工実習コース EMOSキャパシタの作製と電気特性評価コース FIB技術実践コース μTAS実習コース FY2015_UT003 加速器・イオンビーム分析実習コース FY2015_UT004 TIAパワーエレクトロニクス・サマースクール FY2015_UT005 ナノエレクトロニクス・サマースクール FY2015_UT006 ナノグリーン・サマースクール FY2015_UT007 先端計測・分析・サマースクール FY2015_UT008 サマー・レクチャー 京都大学 FY2015_KU001 電子線描画装置入門コース FY2015_KU002 電子線描画装置アドバンストコース FY2015_KU003 MEMSコース 《短期型》 2 2 《短期型》 5 5 5 4 10 30 30 30 120 5 5 6 《短期型》 《短期型》 《短期型》 《短期型》 《短期型》 《短期型》 《短期型》 《短期型》 《中長期・集中型》
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