國立台灣科技大學 機械工程系 碩士學位論文 學 號 : M9 1032 20 乾式機械化學拋光在單晶藍寶石晶圓之 平坦化加工研究 Research on Planarization of Single Crystal Sapphire Wafers with Dry Mechano-Chemical Polishing 研 究 生:古 振 瑭 指導教授:陳 炤 彰 博士 中華民國九十三 年 五月二十一日 利 老 兩年來 勵 林 益良 禮 漏 不吝 見 金 更 柳 林 見 劉 沈 論 力 年來 利 來 路 勵 錄 ..................................................................................................VI ................................................................................................ VII 錄 ................................................................................................... VIII 錄 ......................................................................................................XI .................................................................................................... XII 論 1.1 ............................................................................. 2 1.2 .......................................................................................... 4 1.3 .......................................................................................... 7 1.4 .......................................................................................... 7 1.5 ..................................................................... 9 藍 1.5.1 藍 ........................................................... 9 1.5.2 藍 ........................................................... 9 1.5.3 藍 ............................................................. 10 1.5.4 藍 ............................. 10 1.6 ........................................................................................ 11 I 2.1 CMP ...................................................................... 20 2.2 MCP ...................................................................... 21 2.3 DMCP ........................................................... 22 理論 3.1 ............................................... 26 3.1.1 G-W model ............................................................. 26 3.1.2 3.1.3 力................................. 28 料 ......................................... 30 力 3.2 ........................................... 34 3.2.1 度 ................................................................. 35 3.2.2 率 ................................................................. 38 3.3 ........................................................... 41 3.3.1 ................................................................................. 41 3.3.2 路 3.3.3 3.4 4.1 料 ......................................................................... 44 度 ......................................................................... 46 料 率 ................................................... 48 度 ............................................................................... 62 II 4.2 ....................................................................... 63 4.3 ............................................................................... 63 4.4 ........................................................................................ 63 4.5 量 ............................................................................... 65 4.5.1 ............................................................................. 65 4.5.2 4.5.3 度量 輪廓 ..................................................................... 65 ............................................................................. 65 4.5.4 ..................................................... 65 4.5.5 數 ......................................................................... 66 4.5.6 奈 ............................................................................. 66 4.5.7 4.5.8 X 力 ......................................................................... 66 .................................................................... 67 5.1 ........................................................................... 77 5.2 理 ............................................................... 77 5.2.1 ..................................................................... 78 5.2.2 度............................................. 78 5.2.3 ................................................. 81 5.2.4 ................................................................. 83 III 5.3 ........................................................................... 84 六 論 6.1 DMCP 理論 ........................................... 97 6.2 ................................................. 102 6.3 ................................................................. 104 6.4 料 率 度 ................................. 105 度 論 7.1 論.............................................................................................. 117 7.2 .............................................................................................. 119 .................................................................................................. 128 參 錄 A 藍 錄 B 量 SiO2 ..................................... 131 料 度 .............................................................. 133 藍 錄 C 藍 .......................................... 134 度量 錄 D DMCP (DOE) 數 ....................................... 136 錄 E Scales for Normal Probability .................................................. 140 錄 F DMCP 數 錄 G 錄 H 錄 I 量 .......................................................... 141 .............................. 143 藍 理 .................................................................. 144 參數 ...................................................................... 146 料 IV 錄 J 錄 K 錄 L .......................................................................... 147 路 ...................................................................... 150 .................................................................. 154 V (Dry Mechano-Chemical Polishing, DMCP) Wafer Single Crystal Aluminum-Oxide Single Crystal Sapphire Wafer 藍 參數 26nm SiO2 料 料 藍 粒 料 : 兩 (R1) (R2) R1 料 力 量 料 (Passivization Layer) DMCP R2 料 R1 度 R2 來 Indention 理論 量 理論 MR 路 利 Design of Experiment, DOE 數( 力P 度 N 立 料 T) 參 參數 Yr 度 Ym YpT =Yr / Ym (Operation Index) 參數 參數 力 P NU) 來 度 Ym 度 Yr µm/hr 度 DMCP 料 N 度 DMCP RMS 0.588 度 料 1.5~2.4 nm DOE 度 Ym Yr 率 MRR 21.36 度(Non-Uniformity, DMCP 綠 VI ABSTRACT This research is to develop a two-stage process model and to investigate effects of working parameters of the Dry Mechano-Chemical Polishing (DMCP) for single-crystal sapphire wafers with the SiO2 abrasives of average grit diameter 26 nm. The iterative two-stage process model includes the first reactive stage (R1) of passivization layer due to the solid-phase chemical reaction by down pressure and reactive velocity of abrasives and wafer and then the removal stage (R2) of removing the passivization layer with the abrasives. In DMCP process, the depth of passivization layer in R1 can be estimated with developed contact theory and chemical reaction mechanism. The depth of removal in R2 can also be estimated with indention theory and developed polishing path formula. A full 2-level three-factor factorial experiment with statistical design of experiment DOE were designed to find the significant effects of operation parameters including, down pressure P, relative velocity N, and operation time T. Two performance index of wafer removal depth (Ym) and RMS surface roughness of wafer (Yr) after polishing have been used to evaluate the experimental factors. Moreover, an optimal operation index (YTp= Yr/Ym) of DMCP has been set to be minimized for finding the operation window of DMCP by random searching method. Experimental results have shown that the Ym is affected mostly by relative revolution speed N and the Yr is significantly affected by down pressure P. Finally, the material removal rate MRR can be obtained as 21.36 µm/hr, surface roughness (RMS) as1.5~2.4nm and non-uniformity NU as 0.588. In this research, optimal operation window has been found by the developed method and used to evaluate the of DMCP of sapphire wafers. Thus the DMCP can be further developed into an efficient eco-polishing process for planarization of related brittle wafers. VII 錄 1.1 LED 藍 ........................................................................14 1.2 ..........................................................................17 1.3 ...........................................................................17 2.1 ..............................................................................23 2.2 量 2.3 ...................23 ..........................................................24 2.4 3.1 CMP 藍 量 DMCP 藍 ................24 ..............................................50 料 3.2 ..................................................51 3.3 ..........................................................................52 3.4 ..........................................................53 3.5 料 3.6 料 ..........................................................54 力 3.7 3.8 3.9 行 料 ..................................................................55 度..........................................................56 ......................................................56 料 Berkovich ........................................................................57 3.10 料 Berkovich .............................58 3.11 料 Spherical ..............................58 3.12 路 ..................................................................59 3.13 路 ..............................................................................60 3.14 路 ..........................................................................60 3.15 Ai(i=1.2.3..n).......................................61 4.1 . LM-15 .........................................................69 4.2 . ..................................................................70 4.3 . ..................................................................71 4.4 . ..........................................................71 4.5 . Talysurf CCI 3000...................................................72 4.6 . 度量 4.7 . SW 5 4.8 . 4.9 . 輪廓 HOMMELWERKE T4000 .........................72 度量 ..................................................73 TENCOR-Alpha step500 ........................................73 JSM-6500F......................................74 VIII 4.10 藍 9 度量 4.11 藍 9 度量 .........................................................74 量 4.12 奈 .............75 ..........................................75 4.13 ......................................76 力 4.14 X ..................................................................................76 3 .............................................................................87 5.1 2 5.2 5.3 度..................................................................................88 ......................................................................88 兩 5.4 ......................................................................89 5.5 參數 5.6 參數 料 度 度 ym 度..................90 度 .......................90 yr 5.7 料 度 ......................................................91 5.8 料 度 ......................................................91 5.9 度 ..........................................................92 5.10 度 ..........................................................92 5.11 料 5.12 ..............................................93 度 ..................................................93 度 5.13 ..............................................................94 流 5.14 Y0+ ( X ) ,T(+ high level) 5.15 Y00 ( X ) ,T(0 Medium level) 5.16 Y0− ( X ) ,T(- low level) ...........................................95 ...................................95 ...........................................96 6.1 ...........................................................108 6.2 .......................................................109 6.3 R1 Si .................................................110 6.4 R2 Si .................................................111 6.5 藍 X-Ray 6.6 X-Ray .......................................................112 ...............................................................112 6.7 FESEM 量 藍 DMCP 6.8 FESEM 量 藍 CMP 6.9 AFM 量 藍 DMCP 6.10 AFM 量 藍 CMP 6.11 6.12 料 率 ....................113 ......................114 .........................115 ................................................116 度 度 .................113 料 IX 度 .......................117 6.13 路 料 度 6.14 T=+(High level) .....................................................119 6.15 T=0(medium level) ................................................120 6.16 T=-(low level) 6.17 ....................................118 ........................................................120 料 度 6.18 度 X ................................121 ....................................122 錄 1.1 MCP 1.2 1.3 ...............................................................14 LED ....................................................................16 LED 見 ............................................................16 領 1.4 藍 ..............................................................18 理 1.5 ..................................................................19 理 2.1 ..............................................25 4.1 ......................................................68 量 5.1 3 2 參數...........................................................87 5.2 n=23 (+:High Level , -:Low Level)..................................89 6.1 DMCP 料 6.2 ................................................................116 理論 6.3 6.4 ...................................................................107 度 路 料 料 6.5 DOE 度 率 .......................117 ................................118 度 ........................................................119 6.6 參數 ....................................................121 6.7 參數 ........................................................121 6.8 MR RMS ............................................................122 6.9 MRR , RMS , N.u .................................................123 XI α : β : 0.85 數 at L=0.1 Ψ : G-W model σ 12 : 度(Asperity Height) 度 σ1 : 1 度 度 σ2 : 2 度 度 σT : Specific Heat ν1 : 1 ν2 : 2 νw : νa : 料 料 料 νf : 料 µ : ρ : 數 度 Density ρA : θ : ρb : 度 ε ji : A : Ab : Ac : Aea : 料 料 Aepa : XII ~0.35 at L=5 Ai : AO : Apa : 料 Ap : 料 Ap,c : 料 Ar : 料 Ap Ac AW : Awf : a : a 1 , a 2 .. a 7 :Ym 度 a 0 : Ym b 0 : Yr b : 度 b 1 , b 2 .. b 7 :Yr 度 Dave: 度 Di : 度 d : E* : EA 數 : Experimental Activation Energy EA0 : Ea : 力 料 料 Ef : 料 Ew : Ewa*: 數 料 料 數 數 數 XIII E wf : 數 E1 : 1 數 E2 : 2 數 E12* : 兩 數 e1 : e2 : F : Fea : 料 力 Fepa : 力 Fpa : 料 H : 料 力 度 Hs : 兩 度 Hv : 藍 ha : 度 料 量 ha1 :臨 ha2 : 量 hc : 度 降 量 hp : i 度 數 (i = 1,2,3..n ) : j :m 料 度 Kb : 兩 Km : 度 數 料 KR : K0 : r 數 率 數 數 數 κ : order numbers Rate Constant Pre-Exponential Factor κ = 1,2,3...........M XIV L : 度 L P : Peclet Number M : Effect Numbers MRmax : 料 度 MRmin : 料 度 MRave : 料 度 N.u : 不 度 nabs : op 料數 : 料 Pca : 臨 Pea : 降 量 力 料 力 Pepa : 力 Pwf : 力 Pκ : Probability Scales Q :兩 q : 量 R : 率 RG : Rate of Reaction 數 RW : Ra : Rf 料 : Ri : Rwa* : i = 1,2,3......n 料 Rwf : R12*: (Asperity Summits) XV R1 : 1 R2 : 兩 2 rc : Si : i = 1,2,3......n 路 T : TC : 度 Tb : 度 Tf : 度 Udef : 力 U1 : 1 度 U2 : 2 度 U : VRf Deformation Energy 料 度 : VRw : Vri : 量 Vi : 料 Vi : 度 量 i 量 Vj : 度 量 j 量 W : ωp : ωs : X : P,N,T Xb : 參數 數 Yji : XVI Ym : Yr : 料 度 度 YPT : y ji : 數 量 XVII 論 Single Crystal Alumina Wafer (Sapphire Wafer) 1.1 LED 藍 LED 藍 藍 藍 LED 藍 理 藍 1 藍 藍 藍 見 藍 LED 藍 度 9 度 2 度 Chemical-Mechanical 藍 Polishing CMP 料 料 力 料 料 料 藍 藍 3 裂 了 理 不 連 了 量利 理 狀 1 都 1.1 料 年來 益 來 料 CMP 藍 CMP( 說 ) 來 CMP CMP Mechano-Chemical Polishing , MCP 論 1978 4 Mechano-Chemical Polishing , MCP Al2O3 利 Fe2O3 不 行 不 Solid Phase Chemical Reaction Layer Layer Passivation 力 不 料 1978 年 Gutsche and Moody 兩 立 SiO2 料 料 5 藍 率 SiO2 料 藍 兩 : Al2O3+2SiO2+2H2O→Al2Si2O7‧2H2O Chen (BaCO3) 6 AFM 量 行 Ra 1.1 0.633nm 2 料 度 MCP 料 Single Crystal Sapphire Wafer 藍 參數 列兩 I. SiO2 行 料 理論 : 來 藍 料 度 料 度 (Design of Experiment, DOE) II. 利 (Operation Window, OW) 料 參數 度 度 度 Mechano-Chemical Polishing, MCP 料 行 力 度 料 量 料 度 料 料 5 SiO2 料 藍 料 MCP 行 MCP SiO2 藍 度 率降 降 料 (Dry Mechano 率 Chemical Polishing, DMCP) 行 3 不 SiO2 料 藍 量 SiO2 率 更 料 易 藍 料 1.2 不 率 論 1.2 1978 年 Gutsthe 5 SiO2 率 料 狀 SiO2 料 立 料 率 藍 行 度 藍 數 1978 年 4 Fe2O3 MCP Al2O3 利 不 行 不 力 不 1982 年 Vora 7 Fe2O3 SiO2 Si3N4 良 1983 年 MgO CaCO3 量 8 行 料 粒 了 4 力 立 立 1985 年 West 9 理 度 兩 量 Cr2O3 1992 年 Suzuki 10 Si3N4 料 III V Dry MCP 料 行 度 料 1992 年 Kikuchi 度 (MCP) 行 Cr2O3 11 料 SiC 料 不 XRD(X-Ray Diffraction) 料 良 1993 年 Tani 12 料 狀 行 10nm 度 1995 年 Kuhnle 13 NaNO3 MCP 行 粒 度 RMS 0.2nm 1995 年 Guha 14 滑 滑 力 理論 理論來 兩 度 5 不 1995 年 Michel 15 Mullite 拉 200-1200 cm-1 雷 度 416,960 cm-1 Bands 1997 年 16 pH 量 行 說 pH 不 臨 1998 年林 17 1999 年 Gomes 18 Theta 論 年來 離 X-ray 6∘~26∘ 2001 年 Hassan 19 Greenwood (Plastic Index)來 度 8~15 度 Williamson 兩 滑 理論來 2002 年 Kadlecikova 力 20 100-800 cm-1 cm-1 He-Ne 雷 藍 Theta 藍 0001 拉 Band 度 X-ray 414 來 12.6∘~13∘ 度 12.8∘ 2003 年 21 α 6 MCP 行 SiO2 利 藍 率 行 路 2003 Chen 6 (BaCO3) 行 料 AFM 量 行 度 Ra 0.633nm 1.1 理 MCP 1.3 藍 見 LED LED 2002 年 235 26% 381 24% 車 22 1.3 亮度 LED 例 22 省 車 讀 陸 車量 亮度 LED 47% LED 藍 車 303 2004 年 LED 1.2 車 2003 年 29% 率 年來 LED 車 車 車 力 22 7 年 200 LED 5000 1.4 參 DMCP DMCP 料 藍 不 料 藍 量 兩 料 料 理論 度 料 : 度 I . 理論 理論 料 率 DMCP 料 料 理論 力 料 料 了 量 料 理論來 率 II . 料 來 21 料 論 度 料 DMCP 料 ( 度 料 ) 料 III . 料 8 度 度 Design of Experiment , DOE 力P N T 度 RMS 度 藍 Ym 料 DMCP 料 了 度 度 YTp= Yr /Ym Yr DMCP 兩 Yr 度 度 MR 料 Performance Index Ym 參數 YTp DMCP YTp 參數 參數 行 DMCP 行 1.5 藍 1.5.1 藍 藍 兩 : 六 度 立 9 兩 度 藍 度 β α ζ η θ κ ρ 1.2 χ 9 藍 Al3+離 α α 六 ABAB 3 18 來 2 γ 藍 六 2/3 1.3 列 4 3 12 來 α 2 9 1.5.2 藍 藍 1.4 度 度 度 100% 理論 藍 3.986 g/cm3 度 藍 理論 例 拉 10 度 藍 1.9~24 GPa 度 數 Young’s Modulus E 數E 380GPa 200GPa 2 1200οC 數 藍 降 度 力 度 藍 度 藍 藍 度 度 2 力 1.5.3 藍 數 藍 數 度 數 度 數 數 數 800οC 1.5.4 數 數 度 藍 度 2 量 藍 5 藍 兩 量 量 ) 不 量 ( 藍 : Al2O3 +SiO2 → Al2SiO5 10 5 400 K Kelvin 度 5 度 藍 度 理 1.5 1.6 2.1 Chemical Mechanical Polishing, CMP CMP 料 料 2.2 易 Machano-Chemical Polishing , MCP 了 MCP Two-Phase 兩 Model R1-Phase R2-Phase 理論 3.1 理論 藍 料 G-W 力 兩 兩 理論 11 料 (Activation Energy) 料 率 料 料 料 料 路 來 度 4.1 DMCP 4.2 DMCP 力P N T 4.2 DMCP 藍 4.4 4.5 DMCP 量 度 RMS 量 料 量 藍 度 度 DOE 5.1 OW DOE 度 Effects 5.2 理 12 DMCP Performance Index Operation Index 5.3 料 Yr 度 六 Ym 度 料 度 度 論 6.1 R1-R2 Phase 論 率 6.2 論 DOE 度 Ym 度 6.3 料 Yr 度 OW) 料 度 RMS 度 6.4 DMCP 藍 度(RMS) 參數 料 率 MRR 度(NU) 論 藍 行 論 見 13 來 1.1 藍 LED 1 1.1 MCP 年 料 立 料 Gutsche 1978 SiO2 率 藍 度 兩 率 行 1978 不 Fe2O3 數 5 MCP 藍 力 不 14 4 CaCO3 行 MCP MgO Vora 良 1982 量 SiO2 Si3N4 7 Fe2O3 (DMCP) 度 Suzuki 1992 Cr2O3 度 Si3N4 料 (DMCP) 行 10 參數 Kikuchi 1992 良 Cr2O3 SiC 11 Kuhnle 1995 NaNO3 行 MCP 度 RMS 0.2nm 13 15 料 利 2003 行 藍 SiO2 率 路 行 21 行 AFM 量 Chen 2003 度 (BaCO3) Ra 0.633nm 6 1.2 LED 22 2002 2003 2004 (LED) 率 24% (NT ) 見 1.3 LED 235 303 領 22 381 26% 47% 領 (27%) 車 / (22%) 車 車 讀 行 / (35%) IA (16%) 3C Computer-Communication-Consumer 料 16 O 1.2 六 1.3 17 1.4 藍 理 2 藍 理 Al2O3 數(Lattice Constants) Hardness 數 力 c=13.00 A 10-10 9 Poisson Ratio 數 10-10 3.98 g/cm3 度(Density) 度 a=4.765 A 0.25~0.30 Young’s Modulus 345GPa Shear Modulus 145GPa Ultimate Stress 448GPa Specific Heat 0.1(cal/ C) 數(Thermal Conductivity) 41.9 W/m‧K Melting 2040 C 18 理 1.5 2 理 SiO2 數(Lattice Constants) Hardness 數 力 c=5.405 A 10-10 7 Poisson Ratio 數 10-10 2.684 g/cm3 度(Density) 度 a=4.914 A 0.17~0.26 Young’s Modulus 105GPa Shear Modulus 31.4GPa Ultimate Stress 228GPa Specific Heat 0.18(cal/ C) 數(Thermal Conductivity) 11.43 W/m‧K Melting 1610 C 19 不 說 不 來 例 Planarization 度不良 : 降 良率 藍 LED 度 LED 藍 (Chemical Mechanical Polishing, CMP) (Mechano Chemical Polishing, MCP) (Dry-Mechano Chemical Polishing, DMCP) 2.1 (Chemical Mechanical Polishing , CMP) 藍 行 CMP 量 力 理 來 綠 不易 識 CMP CMP 2.1 都 料 (Slurry) 利 料 藍 度 度 料 力 CMP 料 不 易 (Sub Surface Damage) 2.2 20 藍 CMP 料 pH~10 2.2 (Machano-Chemical Polishing , MCP) 了 藍 離 料 (D. I. Watter) 不 兩 (MCP) 藍 (Two-Phase/Four Steps) (Reacting Phase , R1) (Removal Phase , R2) ( 兩 2.3 料 ) 料 力 力 力 ( ;( ) 量; ( ) 料 料 料 ) 料 ; 力 料 不 ) 都 (兩 異 降 率 料 料易 利 率 降 降 料 料 料 率 料 不 2.4 SiO2 21 料 不 2.2 (Dry Machano-Chemical Polishing , DMCP) 不 DMCP SiO2 (兩 料 藍 ) (Wet Machano-Chemical Polishing , WMCP) DMCP 量不 率 料 率 不 DMCP WMCP DMCP 2.1 22 WMCP (Slurry) 藍 (Sapphire) (Diamond dresser) (Pad) 2.1 2.2 量 藍 金 CMP 23 2.3 2.4 21 量 藍 DMCP 24 2.1 (Dry MCP) (Wet MCP) 離 度 (50~98 ) 力 (20~40 力 ( 率 料 率 料 料粒 RMS (1.5~2.4 nm) (3~5nm) N.u (0.588) (0.375) 25 ) ) 理論 21 料 不 料 來 率 料 率 料 3.1 3.1 藍 料 (Three-Body) 3.2 理論(Hertz’s Basic Theory) 23 Pressure) (Contact Area) (GW) Model 兩 力(Contact Greenwood and Williamson (Plasticity Index) 力 24 力 3.1.1 G-W model G-W model 24 Greenwood Williamson 兩 兩 : G-W model 24 滑 兩 1). 2 . 列 : (Isotropic) (Asperity Summits) 26 3 . 度 (Asperity Height) 度 (Randomly) (Asperity Summits) 4 . 不 (Bulk Deformation) 度 不 G-W model : Ψ= E12 * σ 12 H s R12 * Ψ :G-W model 3.1 E12 * :兩 數[GPa] R12 * : (Asperity Summits) σ 12 : 度 [ 度(Asperity Height) [ H s :兩 E12 * = ( R12 * m] [GPa] 度 1 m] = 1 − ν 21 1 −ν 22 −1 + ) E1 E2 1 1 + R1 R2 σ 12 = σ 12 + σ 22 E1 , E2 :兩 數 ν 1 ,ν 2 :兩 Young’s Modulus Poisson Ratio R1 , R2 :兩 σ 1 , σ 2 :兩 度 G-W model 度 兩 : 27 I. Ψ < 0.6 力 量 力 律 II. 0.6 < Ψ < 1 力 III. Ψ > 1 力 力 料降 不 力 力 律 3.1.2 力 PU 兩 3.3 理 參 錄 A A.2 力 量 行 料 hw 量 料數 3.4 料數 PU 理論 23 滑 理論 量 度 : hw = ( 9 W2 16 R * × E * wf wf ) 2 28 1 3 3.2 b=( 3.2 4 × W × Rwf * π × L × E wf * ) 1 3.3 2 3.3 力 Awf = 2b × 2 L 3.4 Pwf = W 4×b× L 3.5 1 1 1 + Rw R f Rwf * = ( Rw = ∞ Rf = d ) 2 2 1 −ν 2 w 1 − ν f −1 + ) E wf * = ( Ew Ef hw : 量[ m] : 度[ Awf : [ b Pwf : m2] 力[GPa] L : 度[ m] d : [ m] Rf : [ m] Rwf : [ E wf : Ew : m] m] 數[ 數[GPa] νw : Ef : 數[GPa] νf : 29 m] 3.1.3 料 力 G-W model 料 (II) 論:(I) (III) 料 1 . 了 料 : 列 不 2 . 3 . 立 4 . 不 5 . 料 粒 6 . 滑 7 . I 度 料 度 料 理論 23 來 料 力 理論 列 : 1 . 略 料 2 . 兩 度 料 料 力不 降 力 (Yield Stress) 3 . 兩 力(Normal Stress) 料 (Contact Tangent Plane) 切 4 . 兩 料 5 . 兩 料 (Contact Area) (Rest) 30 兩 (Equilibrium) 料 W 料 3.5 藍 料 量 料 量 Aea 料 ha 藍 量 理論 立 力 Fea 都 19 理 滑 料 : 量 a = (3 W × Rwa * 13 ) 4 E * wa 3.6 1 a2 W2 3 9 =( ha = ) 16 R * ×E * 2 Rwa * wa wa 3.2 a Pea (ha ) ; Fea (ha ) ; Aea (ha ) 數 理論 ha 量 ha 力 Pea ha 3.7 3.3 力 1 Fea = 4 E wa * ×( Rwa *) 2 × ha 3 3 3.8 2 Aea = π × ha × Rwa * Pea = 1 Fea 4 E wa * h = ( a ) 2 Rwa * 3π Aea E wa * = ( 1 Rwa * = 1 1 ( Rw = ∞ + Rw Ra ) [N] : ha : 3.10 1 − ν 2 w 1 − ν a2 −1 ) + Ew Ea W: a 3.9 [ 料 m] 量[ m] 31 II Fea : 料 力[N] Aea : 料 [ Pea : 料 E wa * : 料 Rwa * : 料 Ra : 料 Ew : νw : Ea : 料 νa : 料 m2] 力[GPa] 數[GPa] [ [ m] m] 數[GPa] 數[GPa] 料 料 力 Yield Stress) 料臨 降 降 力 K m H (Critical 料 (Elastic-Plastic Deformation) 3.6 14,19 理論 力 理論 料 3.10 臨 降 力 Km H 量 ha1 (Critical Deformation) 臨 3× K m × H ×π Pca :臨 ha1 :臨 4 E wa * 降 3.12 : 3.11 Pca = K m H ha1 = ( 3.11 ) Rwa * 力[Gpa] 量[ m] 32 3.12 Km : 料 數 : Aea = π × ha × Rwa * < Aepa = α × π × ha × Rwa * < Apa = 2 × π × ha × Rwa * (1 < α < 2) Aepa = α × π × ha × Rwa * Aepa : α 數 3.14 m2] [ : 3.5 見 數α Pepa 力 Hassan 力 Fepa Pepa = H (1 − 0.6 Fepa = Pepa × Aepa =π × Rwa *×ha × H[1− 0.6 α = [1 − 2( 19 : ln ha2 − ln ha ) ln ha2 − ln ha1 Aepa = π × Rwa * ×ha × [1 − 2( 3.15 ha − ha1 3 h − ha1 2 ) + 3( a ) ] ha2 − ha1 ha2 − ha1 lnha2 − lnha h − ha1 3 h − ha1 2 ][1− 2( a ) + 3( a )] lnha2 − lnha1 ha2 − ha1 ha2 − ha1 ha − ha1 3 h − ha1 2 ) + 3( a ) ] ha2 − ha1 ha2 − ha1 Pepa : 力[GPa] Fepa : 力[N] ha1 : 料臨 ha 2 : 料 3.13 降 33 量[ m] 量[ m] 2 ha 3.16 3.17 : ha III 料 料 料 力 料 料 3.6 料 降 不 料 力 度 H 19 料 (Plastic Deformation) 料 不 m] 量[ 不 度 H 料 料 料 降 Hook’s Law : Ppa = H 3.18 Apa = 2π × ha × Rwa * 3.19 Fpa = Apa × Ppa = H × 2π × ha × Rwa * 3.20 : 料 Apa : 料 [ Fpa : 料 力[N] : 料 Rwa * : 料 H ha 度[GPa] m2] m] 量[ [ m] 3.2 料 力(W) (µ) 料 料 (Activation Energy) 34 度(V) 數 (Reaction Energy Barrier) 量 量 3.2.1 料 率 度 度(Surface Conjunction Temperature) 滑 23 度 兩 兩 度 兩 滑 度 度 度(Maximum Surface Contact Temperature) 度(Flash Temperature) 度(Bulk Temperature) 3.7 度 度 度 度Tf 料 TC 度 度 Tb ( Bulk Temperature) 度 度 度 : TC = T f + Tb 3.21 TC : 料 度 Tf : 度[K] Tb : 度[K] 度 列 1 . 兩 度[K] 理論來 兩 : (Thermal Properties)不 (2 . 3 . 4 . 兩 35 度 5 . 兩 6 . 數 ( 度 ∂T = 0 ) ∂t 量: q= Q A 3.22 量[W/m2] q : Q :兩 [W] [m2] A : 兩 Q 數µ 度U W 料 Q Q : Q = µW (U 1 − U 2 ) µ : 3.23 數 W : [N] U1 : 1 度[m/s] U2 : 2 度[m/s] 量 理論 兩 兩 率 兩 論 參數 Peclet Number 率 23 來 Peclet Number 參數 率 度U L p = Ua 度ρ 數K : 3.24 2X b 36 Xb = Kb 3.25 ρσ T L p :Peclet Number U : 度[m/s] a : [m] Xb : 數[m2/s] 數[W/mοC] K b :兩 ρ : σT : [J/KgοC] Specific Heat Peclet Number 來 來 I. [Kg/m3] Density 度 兩 : 說 Lp<0.1 兩 度 II. 0.1<Lp<5 度 度 III. 5.0<Lp 度 度 度 量 不 量 量 度 度 Peclet Number 來 兩 量 度 量 37 度 Archard 23 度 度 Peclet Number 不 Jaeger 來 不 SiO2 理 料 DMCP Peclet Number Peclet Number Tf = α 3.22 料 : 理 π qa 3.26 4 K 3.23 3.26 : 列 µ (U 1 − U 2 )(3.14 HW ) 0.5 3.27 K Tf : 藍 L<0.1 Jaeger T f = 0.125 狀 度 q : 量 數[W/mοC] K :兩 a : [m] α : 0.85 數 3.2.2 at L=0.1 ~0.35 at L=5 率 不 料 度 藍 力 25 兩 率 料 率 率 38 22 : R = KR[ρ A ] ρA = Ar Ao R : 3.28 3.29 Rate of Reaction 率 KR : 率 數 Rate Constant [µm/min] [µm/min] ρA : AO : m2] [ Ar : [ 料 率R 度 率 m2] 數 KR 兩 ρA 率 料 25 來説 率 數 KR : 度 TC K R = K 0 exp(− EA ) RGTc RG : 數 8.314[ Kj/Kmol.K] TC 3.8 Ar : 3.30 度[K] K0 : 數 EA : 數 Pre-Exponential Factor [µm/min] Experimental Activation Energy [kJ/mol] 料 率 度 Reaction Energy Barrier 39 量 率 率 3.30 25 度 理 : ⎛ E ⎞1 ln K R = ⎜⎜ − A ⎟⎟ + ln K O ⎝ RG ⎠ Tc 3.31 3.31 Y=mX+C X 1 Tc ln K R C (- E A RG ) ln K 0 Arrhenius Plot 1 Tc Y ln K R 率m 立 度 率 26 來 力 降 率 : K R = K 0 exp(− E A0 : U def : E AO − U def RG Tc 3.32 ) [kJ/mol] 力 力 Deformation Energy [kJ/mol] 料 力 料 不 易 力 料 力 度 拉 力 料 E A0 路 U def 率 40 降 力 3.3 料 料 料 論 料 : 列 1 . 料 料不 2 . 3 . 料 4 . 5 . 度 度來 料 料 料 3.3.1 Indenter 料 刺 度 料 度 度 論 度 Plastic depth 度 兩 Maximum depth : 論 A. Berkovich Indenter 度來 理 狀 狀 狀 狀 了 狀 便 27 3.9 rc = hc tan β 3.33 Ab = πhc tan 2 β = 24.5h 2 c 2 Hv = F F = Ab 24.5hc2 3.34 3.35 3.35 41 hc = 0.202( rc : F 12 ) Hv [ hc : 3.36 m] m] 度[ Ab : [ β : m2] β = 70.3 度 度[N/m2] Hv : F : [mN] 度 hc 料 料 3.10: 3.37 Ac ≈ Ra2 − ( Ra − hc ) 2 × hc Ac : [ 料 Ra : [ 料 B. Spherical Indenter m] 理 27 理論 3.11 a a = (0.75 3.38 F × Ra 13 ) E* 3.38 料 27 m2] 度 : a2 hp ≈ 2 Ra 3.39 42 a : Ra : 料 [ m] [ m] hp : 度[ F : [mN] E* : m] 數[GPa] 度 hp a 料 3.11: 料 ⎛ 2θ ⎞ Ap ≈ π × Ra2 ⎜ ⎟ − Ra sin θ ( Ra − h p ) ⎝ 360 ⎠ Ap : Ra : [ 料 [ 料 3.40 m2] m] θ : C. 料 : 路 3.41 Vi = Ap ,c × S i Vi : Si : A p ,c : 料 [ m3] i =1.2.3..n 路 Ap : 料 43 Ac : [ m] [ m2] 3.3.2 路 來 料 料 料 1 . 2 . 路 路 : 列 料 料 3 . 料 料 3.12 路 120 度 離 切 度 料 離 e2 離 了 e1 ωp RW ωs 量 便 p 來 P 量 : 3.42 op = oq + qp 量 oq op 量 Ri e2 行 立 Pad 行 p 路 44 qp p 離 路 料 p e oq = e1 × cos(ω p t )i + e1 × sin(ω p t ) j 3.43 qp = (e2 + Ri ) × cos((ω s − ω p )t + φ )i + (e2 + Ri ) × sin((ω s − ω p )t + φ ) j 3.43 3.44 3.42 3.44 : 理 op={e1 cos(ωpt) +(e2 + Ri ) cos((ωs −ωp )t +φ)}i +{e1 sin(ωpt) +(e2 + Ri )sin((ωs −ωp )t +φ)}j op : e1 : [ m] e2 : [ m] 量 Ri : i=1.2.3…n ωp : ωs : 3.45 3.45 [ m] [rpm] [rpm] MatLAB P 路 3.13 3.13 3.14 來 路 路 3.45 p ∂ (op ) ∂t 度 量V : V = −{e1ω p sin( ω p t ) + ( e 2 + R i )(ω s − ω p ) sin(( ω s − ω p ) t + φ )}i + {e1ω p cos(ω p t ) + (e2 + Ri )(ω s − ω p ) cos((ω s − ω p )t + φ )} j 度 量V 兩 量 Vi 45 Vj 3.46 度 量V ∫ V •dt P Si = ∫ T 0 路 : Si 3.47 (Vi ) 2 + (V j ) 2 • dt Si : Vi : 度 量 i 量[ m/s] Vj : 度 量 j 量[ m/s] T : 3.3.3 i =1.2.3..n [ 路 [sec] 料 度 路 來 料 n 度 i=1.2.3…n Ai 切 切 3.15 度都不 料 度 料 量 度不 料 零 切 度 料 量 不 度 量 料 Ai 度 量 切 切 A. m] 度 料 3.15 度 Ai 3.40 × 3.47 料 46 : 3.48 Vi = Ap × S i 量: Mri = Vi × ρ bar × nabs × Ai i=1.2.3…n 3.49 度 Di = Mri Ai 3.50 Mri : Vi m3] 量[ : 料 ρ bar : [ m3] 數 nabs : Ai : Di : 料數 [ 度[ B. m2] m] 度 : n VR f = ∑ Mri 3.51 i =1 : VRw = 2π RW ∫ ∫ MR f • r • dr • dθ 3.52 0 0 度: 47 Dave = VRw AW 3.53 VR f : [ VRw : [ m] AW : [ m2] Dave : 3.4 料 度[ 率 料 m3] [ RW : 率 m] 度 Material Removal Rate , MRR 度 不 m3] 度 量來 量 率 度 Non-Uniformity , NU SEMI 28 : NU = MRmax − MRmin MRave 3.54 NU : 不 MRmax : 料 度 MRmin : 料 度 MRave : 料 度 NU 度 度 量 料 料 度 度 例 料 料 度 料 度兩 不 R1 兩 48 R2 論 R1 料 理 力 理論 率 R2 料 度 R1 料 料 料 料 料 49 路 Abrasive Grit 3.1 料 50 Unload Fluff Contacted fluff Load Compressed fluff 3.2 51 Porosity base pad Fluff top pad 3.3 52 Y Sapphire wafer X (Cross section of side view) Fluff a W Sapphire wafer hw Fluff Compressed deformation b hw Fluff Contact Area Awf 2L X 2b 2L (Top View) Z c Awf 3.4 53 Y Sapphire wafer Silica abrasive (Cross section of side view) Fluff 料 a W (Vertical Loading) Sapphire wafer ha (Elastic Deformation) Silica abrasive b 料 ha abrasive contact area Aea (Top View) X Z 料 c 3.5 Aea 料 54 3.6 料 力 行 55 19 料 3.7 度 Single contact area of abrasive Projection area (wafer) 料 a AO Projection area (Wafer) Ar Total Contact area of abrasives b 料 3.8 料 56 Berkovich Ab θ hc (a) Berkovich Cone Ab rC β hc b Berkovich 3.9 Berkovich 57 Abrasive (Berkovich Indenter) θ Ra hc Ac (Removed projection area) Reaction phase of passiviation layer 3.10 料 (Berkovich) Abrasive θ Ra hp AP Reaction phase of passiviation layer (Removed projection area) 3.11 料 (Spherical) 58 Y ωP ωs holder Plate P e2 Ri φ O X q wafer e1 路 3.12 59 路 3.13 路 3.14 60 21 3.15 Ai(i=1.2.3..n) 61 21 藍 藍 量 DMCP 量 料 了 4.1 量 藍 度(Material Removal Depth) 不 度(RMS) 度(NU) 4.1 Lamp Master 參數 說 A. 六 LM-15 4.1 : 力 : 0~10 Kg/cm2 B. : 藍 0~100 rpm C. 數 : 0~90 rpm D. : 0~9999 E. : 62 藍 力 0.067 pa 不 F. 螺 : 力 0.5 HP 220V 4.2 4.2 力 4.3 21 論 4.3 切 度 料 金 料 量 不 4.4 精 都 切 4.4 藍 63 度 29 參 參 錄A 錄A A.1 A.2 SUBA800 參 錄A A.3 度 (P) 參 4.1 度 420µm 30 Nano Tek SiO2 粒 藍 2 (N) 都 藍 : 1 . 精 理 理 2 .藍 度 3 .利 藍 量 行 量 量 數 量 行量 藍 3M 不 不 4 . 螺 不 SiO2 (50g) 力 5 . 精 6 . 行 20 7 . 精 量 數 度量 度 量 度 錄 度量 理 度量 8 . 理 便 行 DOE 64 行 4.5 量 4.5.1 量 藍 3-D 量 Taylor Hobson Talysurf CCI 3000 料 量 CCD 度 CCD 量 量 0.1nm(z-axis) 料 axis) 度 3-D 數 1024*1024(x-y 100µm(z-axis) Step Height(0.1nm) 300mm(X-Y axis) 4.5 度量 4.5.2 量 藍 量 HOMMELWERKE T4000 量 5µm 度 2-D (Cut-off Value) 0.8mm SEMI M3-1296 Specifications for Polished Monocrystalline Sapphire Substrates 量 5 料 量 4.6 28 量 度 TENCOR 5 4.7 輪廓 4.5.3 量 藍 2-D 量 Alpha-Step 500 5µm 量 4.5.4 (Cut-Off Value) 0.2mm 4.8 (FE SEM) 藍 量 JEOL (EDS) JSM-6500F 率 10X~500,000X 65 量 150mm 度 10mm 量 力 1.5nm 0.5~30kv 70mm*50mm 4.9 4.5.5 數 量 藍 度 數 TSR-M 量 量 量 Mitutoyo 量 藍 料 9 4.10 4.5.6 奈 藍 度量 量 奈 量 MTS Nano 65 度 Indenter XPW 奈 4.11 DI-3100 量 Indenter 藍 2 9 兩 4.12 錄B 奈 藍 量 參 10*10mm2 DI-3100 藍 參 MTS Nano 量 度 量 異 行9 量 量 量 度 錄C 力 4.5.7 量 藍 力 度 (Atomic Force Microscope,AFM) 度 0.1 Å 度Å 4.13 66 DI-3100 量 4.5.8 X X 4.14 Rigaku D/Max-RC KW 藍 67 量 4.1 量 LM-15Lamp Master Talysurf CCI 3000Taylor Hobson 藍 度量 3-D T4000 度量 HOMMELWERKE 度量 Alpha step500輪廓 TENCOR 輪廓 TSR-M-數 Mitutoyo 度量 度 量 JSM-6500FEDS JEOL Nano Indenter XPW-奈 MTS 度 D/Max-RC-X Rigaku DI3100-奈 度 理 DI3100-AFM 理 3-D 68 度量 A Air Pressure B Cylinder Cylinder rotating speed controller E Universal joint With vacuum chuck C D F Power controller Timer Pad rotating speed controller 4.1 LM-15 21 69 Cylinder rotating speed controller Jig Air Pressure Pad rotating speed controller 4.2 70 4.3 21 4.4 金 精 71 4.5 4.6 Talysurf CCI 3000 度量 HOMMELWERKE T4000 72 4.7 SW 4.8 輪廓 5 度量 TENCOR-Alpha step500 73 4.9 JSM-6500F 4.10 藍 9 74 度量 4.11 藍 9 度量 4.12 奈 75 量 4.13 DI3100 力 4.14 D/Max-RC X 76 1920 年 (Design of Experiment , DOE) Dr. Fisher 數 31 降 Trial and Error 5.1 利 來 DMCP 參數 DOE N 料 T 度 RMS 度 度 MR 參數 度 Ym 料 Ym 度 YTP= Yr /Ym Yr DMCP DMCP Yr 藍 兩 料 Performance Index 度 力P YTP 度 DMCP YTP 參數 參數 DMCP 參數 行 DMCP 行 理 5.2 理來 : (1 . 立 (Factorial Design) 77 說 DMCP 度(Effect) 2 . 3 . (Regression Analysis) 4 . (Residual Errors Distribution) 5 . (Optimal Operation Window) 5.2.1 (Factorial Design) 3 Factors Factorial Design) n=23 (DOE of 2-level 3 (Factorial Design) 數 n 2 Preston 32 MR = K × P × V × T MR: 料 5.1 量 K : Preston 數 力 P: 度 V: T: 料 量 力(Down Pressure , P) Velocity , N Polishing Time , T 數 都 -: 5.2.2 度 DOE 力P 立 N 2 5.1 度 (Factorial Design) 78 Relative T +: 參數 Operation Parameters (Effects) 參數 度 度(Effects) Effects 度(Main Effects) 度(Interaction Effects) 兩 度 DOE 來說 (Factors) 了説 31 度 Design) Significant 5.1 (Factorial P N T SP1, SP2, SP3, SP4, SP5, SP6, SP7, SP8 數 (+) (-) (Levels) yi(i=1…8) 量 論 度 度 度 N 力P 參數( Main Effects 度 T) 力P 5.2 來說 量 都 y1 , y3 , y5 , y7 P ” - ” P 度 P (− ) = : y1 + y3 + y5 + y 7 4 5.2 理 P P (+ ) = (P (− ) ) ” + y 2 + y 4 + y 6 + y8 4 P (+ ) ” - ” ” : 5.3 兩 兩 度(Main Effects): P P= y 2 + y 4 + y 6 + y8 y1 + y3 + y5 + y 7 − 4 4 79 5.4 理N 度(Main Effects): T N= y3 + y 4 + y 7 + y8 y1 + y 2 + y5 + y 6 − 4 4 5.5 T= y5 + y 6 + y 7 + y8 y1 + y 2 + y3 + y 4 − 4 4 5.6 度(Interaction Effects) 數 參數 參數 P × N ×T 參數 P× N , 參 P ×T , N ×T , 度 度(Interaction Effects) 來說 不 T 5.3 P× N P× N (+ ) y1 , y3 , y6 , y8 P× N 理 P× N (+ ) = y1 + y3 + y 6 + y8 4 5.7 (− ) y2 , y4 , y5 , y7 : P× N (− ) = y 2 + y 4 + y5 + y 7 4 P× N 度(Interaction Effects) P× N = 理 P ×T 5.8 N ×T P ×T = N ×T y1 + y3 + y 6 + y8 y 2 + y 4 + y5 + y 7 − 4 4 : 5.9 度: y1 + y 4 + y5 + y8 y 2 + y3 + y 6 + y 7 − 4 4 y1 + y 2 + y 7 + y8 y3 + y 4 + y5 + y 6 − 4 4 80 5.10 5.11 P × N ×T y2 , y3 , y5 , y8 (+ ) : P × N ×T 理 P × N ×T P × N ×T 5.4 (+) = y 2 + y 3 + y 5 + y8 4 (-) y1 P × N ×T (-) = 5.12 y4 y6 y7 : y1 + y 4 + y 6 + y 7 4 P × N ×T 5.13 度(Interaction Effect) P × N ×T = : y 2 + y3 + y5 + y8 y1 + y 4 + y 6 + y 7 − 4 4 5.14 度 (Main Effects) 23 (Interaction Effects) (Factorial Design) 列 5.2 度 ym 參 錄D 理 度 錄 度 RMS 更 5.2 5.5 5.2.3 量 yr 易 度 ym , yr 度 行8 5.6 (Regression Analysis) 參數 5.5 5.6 Ym 度 Operation Parameters 度 立兩 料 度 Yr 度 : Ym = a 0 + a1 P + a 2 N + a3T + a 4 PN + a5 PT + a 6 NT + a7 PNT 5.15 Yr = b0 + b1 P + b2 N + b3T + b4 PN + b5 PT + b6 NT + b7 PNT 5.16 81 a 1 , a 2 .. a b 1 , b 2 .. b 7 :Ym 度 7 :Yr 度 a 0 , b0 : Ym Yr 度 Yr Ym 31 Normal Probability Paper 來 列 Normal Probability Paper 來 Normal Probability Paper: Pi = 100(κ − 1 / 2) M 5.17 : Pi : Probability Scales κ : Order Numbers κ = 1,2,3...m M : Effect Numbers 參 Normal Probability Paper Probability Paper Scale Regression Model Normal 度(Effects) Matlab Normal Probability Paper Pi 錄E 31 L1 Noise 料 5.7 參數 P × T P ×T Matlab 5.7 5.8 兩 5.9 P × N ×T 度 5.8 率 度 不 L2 P ×T 量 P × N ×T Matlab 82 兩 5.10 5.2.4 率 不 (Residual Errors Distribution) Noise 5.15 (Performance Index) 5.16 : Ym = a0 + a1 P + a2 N + a3T + a4 PN + a6 NT + a7 PNT 5.18 Yr = b0 + b1P + b2 N + b3T + b4 PN+ a5 PT + b6 NT 5.19 Ym ,Yr 兩 立 行 行 Error Diagnosis Residual Error 來 : ε ji = y ji − Yji 5.20 ε ji : 數 y ji : 量 Yji : 數 (i = 1.2.3..n ) i : j :m 數 料 度 度 r 量 (Random) ” 行 ” (Random Distribution) 立 (Performance Index) 立 83 5.11 料 5.12 ε m i Residual Error 度 εri 度 of Removal Depth 料 度 度 Ym 立 Yr 5.3 (Optimal Operation Window) DMCP 參數 率 藍 更 DMCP 念 參數 數 參數 行 不 行 立 DMCP 立 (Operation Index) 料 度 Ym ,Yr 兩 Yr 料 度 度 料 Ym ,Yr 兩 度 T p ( X ) = DOE 度 Ym DMCP Y 參數 Y r ( X ) Y m ( X ) 藍 度 : 5.21 YT p : 度 Yr : Ym : 料 度 X : P, N, T 5.21 參數 度 Ym 度 Yr YTp DMCP YTp數 84 YT p 參數 參數 YTp 5.21 YTp P, N, T 藍 T 數 數 DMCP YTp 數 DMCP P, N, 參數 P, N 數 數 YTp 數 T YTp T Y+p P, N, + + High Level Y-p P, N, - - Low Level T T 0 Medium Y0p P, N, 0 Level Y+p P, N, + Y0p Y-p P, N , 0 數 Y Tp 數 P, N, - 數 利 參數 Random Searching Method 行 33 數 數 : ( ) = YY ((XX )) Y pT X Minimize 5.22 r m Yr ( X ) > 0 Subject to Ym ( X ) > 0 where design variable X = {P, N , T } P : −1 ~ +1 N : −1 ~ +1 T : −1 ~ +1 Y pT ( X ) P, N 數數 1 數 數 數 2 r X− 數 T 數 + 5.22 流 Random Number 0 P, N - 數 85 數 -1 DMCP 5.13 1 兩 亂數 K max X+ 數 Y p+ ( X ) Y pT ( X ) 數 Y p0 ( X ) Y p− ( X ) 數 DMCP 參數 數 5.22 T Y p0 ( X ) T - Y p+ ( X ) + High level Low level 5.14 T Y p− ( X ) 數 DMCP 理 5.15 數 數 5.18 料 度 Ym 不 Yr 參數 參數 P , N 5.19 P-N Ym, Yr 86 T +, -, 0 行 5.16 0 Medium level ( Yr ( X ) > 0 , Ym ( X ) > 0 , YTp>0) 理 度 數 5.1 3 參數 2 Factor Low level ( kg Down pressure ,P cm 2 *Relative rotational speed , N ) ( rpm ) - High level + 2 5 15 35 30 ( min ) * N= Up plate rotational speed(wafer)-Down plate rotational speed(pad) Up plate rotational speed(wafer) 25 150 Operation time, T 100 65 10 Down plate rotational speed (pad) SP7 SP8 y7 y8 (+) SP3 SP4 y3 y4 T (-) SP5 SP6 y5 y6 (+) N y1 y2 SP1 SP2 (-) (+) P 5.1 87 (-) y7 y7 y8 + y3 y3 y3 y4 X3 + y6 y5 y6 y5 - y1 y1 y2 P y7 T y7 y8 y4 - + y1 PxN y2 y6 y6 y5 y6 y8 + y4 y3 - y4 y5 y2 度 y3 + y6 y1 y2 N y7 y8 y5 X2 5.2 - y8 y4 y4 - y3 y7 y8 y5 y6 y1 y2 PxT y1 y2 NxT 5.3 兩 88 \ y8 y7 + y4 y3 y5 y6 - y1 y2 PxNxT 5.4 5.2 n=23 (+:High level Run -:Low level) Factors Yield y m (µm ) y r (µ m ) i P N T P× N P ×T N ×T P × N ×T 1 - - - + + + - 2.814 0.442 2 + - - - - + + 9.444 0.579 3 - + - - + - + 6.187 0.296 4 + + - + - - - 11.29 5 - - + + - - + 3.925 0.602 6 + - + - + - - 7.888 0.756 7 - + + - - + - 18.185 0.685 8 + + + + + + + 38.235 0.7816 89 a2 a1 a3 a6 a4 5.5 參數 料 度 度 ym b3 b1 b6 b4 b2 5.6 a7 a5 參數 度 90 b7 b5 yr 度 5.7 5.8 料 度 料 度 91 5.9 度 5.10 度 92 5.11 5.12 料 度 度 93 Start Given : X + , X − , K max ( X* ← X− +r X+ − X− ) ( ) YO* ← Y0T X * K ←1 K ← K +1 K > K max ( X* ← X− +r X+ − X− Yes EXIT ) ( ) YOK ← Y0T X K YOK > YO* X* ← X K YO* ← YOK 流 5.13 94 5.14 Y p+ ( X ) ,T(+,high level) 5.15 Y p0 ( X ) ,T(0,Medium level) 95 5.16 Y p− ( X ) ,T(-,low level) 96 六 論 DMCP 參數(P-N-T) (Operation Window) 料 率 數 度 MR 參數(P-N-T) 理論 DOE 度 RMS 參數 理論 料 料 率 理論 行 DMCP 來 數 參 錄F 料 6.1 <0001> 50.8mm 藍 Rodel 料 粒 SUBA-800 4.2 SiO2 參見 30 理論 DMCP 料 26nm 2 DOE 率 理論 6.1 DMCP A R1 R2 料 DMCP 行 SiO2 藍 Al2O3 DMCP 藍 SiO2 料 度(RMS) 度(RMS) 6.1 750nm 2nm 料 行 6.2 SiO2 97 料 藍 不 料 量 藍 SiO2 料 率 料 藍 更 易 料 DMCP 兩 藍 R1 EDS Reacting Phase R1 量 R2 DMCP R1 6.4 Si 力P 料 料 SiO2 藍 R2 度N 32 度 Removing Phase 力P EDS SEM Si 力P N B 6.3 料 Preston 量 度N 力P 參數 X-Ray 了 DMCP 行 藍 X-Ray 留 DMCP 行 行 DMCP 度 X-Ray Theta 90.1 六 6.5 40.2 行 藍 藍 Intensity 0006 00012 數 a=4.757 c=12.991 98 參 錄H 留 藍 藍 DMCP 度 6.6 異不 6.5 藍 SiO2 行 藍 X-Ray 度 C DMCP MCP 利 DMCP 料 異不 藍 料 SiO2 藍 SiO2 度 料 利 不 料 更 6.7 參 錄G 量 G.1 DMCP 藍 藍 料 CMP 藍 料 力 留 6.8 藍 料 留 CMP 金 ( M-15 粒 Speed Fam 參 錄G G.2 力 DMCP 度量 0.5 m) 更 量 CMP 藍 (Atomic Force Microscope, AFM) 藍 CMP 6.9 行 3-D DMCP 99 藍 度 Ra=3.609nm, RMS=4.53nm 6.10 藍 CMP 見 度 Ra=6.336nm, RMS=7.97nm D . 藍 度 藍 藍 度 度量 量 量 兩 不 2 量 度 參 50.8mm 藍 2 錄C 藍 量 參數 量 DI-3100 4 量 參 51.8, 202.73, 401.53, 800.96 N 量 不 不 50.8mm 理論 奈 量 度 度 藍 量 9 9 錄 B 35.01Gpa 10*10mm 奈 MTS Nano Indenter XPW 奈 100mN 量 度 類 度 度 3.17, 8.27, 12.55, 23.15nm 度 12.81, 20.70Gpa 4.21, 10.21, 藍 度 E . 理論 參數 Operation Window 理參數( 6.2 參 錄 H 理論 I) G-W 料 Peclet Number 藍 量 A 0.932~0.975 100 1 料 a 15.675~21.183(nm) 粒 量 ha (13nm) 料 a 6.88~10.22(nm) 量 ha a 料 SiO2 力P 率 F . 料 料 DOE 立 料 率 度 率 度 6.11 ( ( 0.148 數 14.46KJ/mol) 料 m/min) 率 率 度 度 0.07~0.23 m/min) 數 料 度 度來 SiO2 料 6.12 ( 14.46KJ/mol) 度 m/min) 度 Mq 度 數 DOE 0.07~0.23 數 ( 率 度 數 利 數 數 Lq 數 ( 數 率 Lq Mq 料 6.3 料 藍 度 度 372~561K 99~288 藍 不 度 5 量 量 藍 度 101 303~371K 30~98 路 G 料 度 料 Spherical Indenter Berkovich Indenter 兩 料 度 度 料 DMCP 料 6.13 料 度 路 度 料 料 SiO2 藍 藍 料 料 料 率 度 6.3 DMCP 立 料 DMCP 度 度 料 DMCP 路 度 降 料 料 度 度 料 量 6.2 (DOE) DOE (P-N-T) Effects) 來說 6.4 度 (Main 度 : A . 料 率 DMCP 度 力P N SiO2 料 藍 率 102 Reaction Rate of Passiviation Phase Layer 料 度 (Material Removal Depth) 力P N 度 度 度 RMS 度(Main Effects) T 度 N N 料 N ×T B . 度 T Preston (Interaction Effects) DOE P 兩 度 零 DMCP 更 料 不 力P來 料 量 度 RMS 度 參數 T 參數 (Interaction Effects) P兩 度 不 料 DOE 度 yr 度 料 度 N 度 度 yr 度 ym 度 ym 數 力P 度 C . (Performance Index) 度 Normal Probability Paper 料 Regression Model 度 ym 度 yr PT PNT 103 兩 料 度 (Performance Index) 度 Ym Yr : Ym = 12.24 + 8.93P + 12.45 N + 9.62T + 3.64 PN + 9.84 NT + 4.40 PNT Yr = 0.167 + 0.198P + 0.057N + 0.187T + 0.053PN − 0.105PT + 0.036NT 兩 行 Random Distribution DOE 6.3 ( ) 立 DOE Y pT X 利 6.16 Random Searching Method ( ) 參數(P-N) Y pT X T= +(High Level) T= -(Low Level) 6.14 6.15 T=0(Medium Level) 不 理 ( )( 參數(P-N) 六 參 數 (P-N) ) ( ) 參數 6.5 Y0T X Y0T X 料 5.18 度 度 Ym Yr 5.19 6.6 參數 參數 行 料 6.17 料 度 料 異 來說 度 度 料 度 行 DMCP 度 SiO2 104 料 料 SiO2 料 料 料 降 率 料 料 度 度 DMCP 度(RMS) 6.18 RMS T=0(Medium Level) DMCP T =+(High Level) 量 T =-(Low Level) 度 度 RMS 數 YPT ( X ) RMS 不 度 RMS 異 量 奈 量 料 6.4 6.4 料 度 率 料 不 度 6.9 T=-(Low 度(RMS) 料 32 度N 力P Level) 量 Level) 力P 度 RMS 率 Preston 兩 度 度 錄 Level) 度 RMS 料 率 度 力P N T=-(Low 率 T=-(Low 力P DOE 度 力P 度 度 度 度 1~3nm) 粒 來 ( 料粒 論 料 度 料 粒 26nm 105 粒 料 21 度(NU) T(+) 力P 料 度 量 P T(0) T(-) 度 力 N ( 易 ) 度 力P 度 106 料 6.1 DMCP 料 Material name Wafer Property (Sapphire) Abrasive (SiO2) Pad (Suba800) 0001> Diameter 2” 50.8mm 26(nm) High Compressibility 107 6.1 108 6.2 109 6.3 R1 Si 110 6.4 R2 Si 111 6.5 藍 X-Ray 6.6 X-Ray 112 6.7 FESEM 量 6.8 FESEM 量 藍 DMCP 藍 CMP 金 113 6.9 AFM 量 藍 DMCP 114 6.10 AFM 量 藍 CMP 115 理論 6.2 *T(+) 4.26 0.0605 530 562 0.932 6.88 15.675 G-W index Peclet number Unloaded contact area A0 (nm2) Loaded contact area Ar(nm2) Ratio of contact area A= Ar /A0 Deformation ha (nm) Contact radius a(nm) Contact situations *T(+) P=2.5(kg/cm2 ) N=35(rpm) ** T(0) *** T(-) P=5(kg/cm2 ) N=25(rpm) **T(0) ***T(-) 4.26 4.26 0.0691 0.0818 530 530 671 840 0.952 0.975 8.22 10.29 17.903 21.183 Plastic contact heat conductivity(steady-state) P=3.5(kg/cm2 ) N=35(rpm) 0 -0.5 -1 ) ni m / m u( et ar ) al v k( o nl m er l ai r et a m up limit -1.5 least squar line -2 Lq low limit -2.5 -3 -3.5 2.6 2.7 2.8 2.9 3 3.1 3.2 6.11 料 率 116 3.3 3.4 -3 1/K temperature (Kelvin) x 10 度 度 6.12 度 6.3 Material removal depth m) High * T(+) medium ** T(0) Low ***T(-) 料 料 度 度 Reacting Experimental layer result % 20.69 25.844 19.9% 12.73 19.24 33.8% 6.78 10.7 36.6% *T(+) P=2.5(kg/cm2 ) N=35(rpm) ** T(0) *** T(-) P=5(kg/cm2 ) N=25(rpm) 117 Error P=3.5(kg/cm2 ) N=35(rpm) 6.13 路 路 6.4 料 料 率 Polishing Berkovich Indenter Material removal depth m) Experimental path result Error % 35.2 25.844 26 % Medium **T(0) 21.4 19.24 10% low ***T(-) 10.9 10.7 1.8 % High * T(+) Spherical Indenter Polishing Experimental path Error % result 35.8 25.844 28 % Medium **T(0) 27.1 19.24 29.7% low ***T(-) 13.2 10.7 19 % High Material removal depth 度 * T(+) m) *T(+) P=2.5(kg/cm2 ) N=35(rpm) ** T(0) *** T(-) P=5(kg/cm2 ) N=25(rpm) 118 P=3.5(kg/cm2 ) N=35(rpm) 6.5 DOE Material Removel depth( y m ) Effects 度 average P N T PN PT NT PNT 12.24 8.93 12.45 9.62 3.64 2.53 9.84 4.40 P N T PN PT NT PNT 0.187 0.053 -0.105 Surface average Roughness( y r ) Effects 0.167 0.198 0.057 6.14 T=+(High level) 119 0.036 -0.167 6.15 T=0(medium level) 6.16 T=-(low level) 120 參數 6.6 P N Y0T T(+) High level -0.413 0.997 0.000036 T(0) medium level 0.435 0.999 0.000066 T(-) low 0.998 0.521 0.000075 level 參數 6.7 P(kg/cm2 ) Ym N(rpm) m) Yr m) T(+) High level 2.5 35 38.06 0.0014 T(0) medium level 3.5 35 30.3 0.002 5 25 13.22 0.0011 T(-) low level 40 35 30 ht p e d l a v o m m er u l ai r et a m 25 20 15 Random search Experiment 10 -1 -0.8 -0.6 T(-) -0.4 -0.2 0 0.2 0.4 0.6 料 121 1 T(-) T(0) 6.17 0.8 度 -3 2.5 x 10 2 s s e n h g u or e m c af u r u s S M R 1.5 Random search Experiment 1 -1 -0.8 -0.6 -0.4 -0.2 0 0.2 0.4 0.6 0.8 T(0) T(-) 度 6.18 6.8 MR RMS random search Material moval depth m) RMS surface roughness m) High T(+) medium T(0) Experimental result Error % 38.06 25.844 32% 30.3 19.24 36% low T(-) 13.22 10.7 19 % High T(+) 0.0014 0.0016 12.5% Medium T(0) 0.002 0.0024 20% low 0.0011 0.0015 36.3% T(-) 122 1 T(+) 6.9 MRR RMS NU. 料 率 度 (MRR) µm/min 度 (RMS) nm (N.u) *T(+) 0.199 1.62 0.682 **T(0) 0.227 2.3 0.652 0.356 1.56 ***T(-) 2 *T(+) P=2.5(kg/cm ) N=35(rpm) ** T(0) *** T(-) P=5(kg/cm2 ) N=25(rpm) 123 0.588 2 P=3.5(kg/cm ) N=35(rpm) 參 1 “ 雷 ” 料 2001 年 7 2 “ ” 83 年7 3 “ ” 論 4 5 6 7 8 2001 年 6 N. Yasunuga, “Effect of Solid State Reaction on Wear of Sapphire Sliding on Steel”, Journal of JSPE 44, 1978, pp. 65 ~ 71. Henry W. Gutsche and Jerry W. Moogy, “Polishing of sapphire with colloidal; silica” journal of the Electrochem society of Solid-State Science and technology, 1978, PP.136~138. Chao-Chang A. Chen , Li-Sheng Shu , Shah-Rong Lee, “Mechano-chemical polishing of silicon wafers”, Journal of Materials Processing Technology, Vol 140 pp.373~378 (2003). H. Vora, “Mechano-chemical Polishing of Silicon Nitride”, Communcations of the American Ceramic Society”, 1982, pp.140 ~ 141. “ ” 復 1983 年 9 Anthony R. West, “SOLID STATE CHEMISTRY AND ITS APPLICATIONS”, 狀 1985 年 4 10 K. Suzuki, “ Development of a New Mechano-chemical Polishing Method with a Polishing Film for Ceramic Round Bars”, Annals of CIRP Vol. 41, 1992, pp. 339 ~ 342. M. Kikuchi, “Mechano-Chemical Polishing of Silicon Carbide Crystal Single Crystal with Chromium Oxide Abrasive”, Journal of Ceramic Society, 1992, pp. 189 ~ 194. Y. Tani, “Development of High-Concentration Lapping Discs with Low Bonding Strength and Application to Mirror Finishing of Brittle Materials”, JSME International Journal Vol 36, 1993, pp. 264 ~ 270. 11 12 128 14 J. Kuhnle, “Mechano-chemical Superpolishing of Diamond Using NaNO3 or KNO3 as Oxidizing Agents”, Surface science 340, 1995, pp. 16 ~ 22. D. Guha, S. K. Roy Chowdhuri, The effect of surface 15 roughness on the temperature at the contact between sliding bodies” Wear, 1995, pp.63-73. D. Michel, Ph. Colomban, Germanium Mullite: Structure and 13 Vibrational Spectra of Gel, Glasses and Ceramics 16 Journal of the European Ceramic Society, 1996, pp.161-168. “Dispersion Behaviors of Aqueous BaTiO3 Suspensions”, Chinese Journal of Materials Science,Vol. 29,No. 3,1997,pp.195 ~ 202 17 林 “ Interface Society Vol. 21 18 ” 離 1998 S. Gomes, M. Francois, Journal of Chin Colloid & pp. 35 ~ 53 Characterization of mullite in silicoaluminous fly ash by XRD,TEM, and 29 Si MAS NMR , 19 Cement and Concrete Research 30, 1999, pp.175-181. Hassan Zahouani, Rough surfaces and elasto-Plastic contacts”, 20 Editions scientifiques et medicales Elsevier SAS 2001, PP.709-715 . M. Kadlecikova, J. Breza, A study of synthetic sapphire by photoluminescence and X-ray diffraction 21 , Microelectronics Journal 34, 2003, pp.95-97. α 論 2003 年 7 22 Http://0-cdnet.stic.gov.tw.millennium.lib.cyut.edu.tw 23 G. W. Stachowiak, A.W.Batchelor, 24 25 Engineering Tribology”, ELSEVIER SCIENCE PUBLISHERS 1993, PP.334-421. J. A. Greenwood and J.B.Williamson, “Contact of nominally flat surfaces”, Proc.Royal Soc.London A, Vol.295, 1966, PP.300-319 . K. A. Connors, “Chemical kinetics-the study of reaction rates in solution”, VCH, 1990, PP.13-14. 129 26 G. Heinicke, “ Tribochemistry, Hanser 27 28 A. C. Fischer , “A review of analysis methods for sub-micron indentation testing”, Journal of Vacuum, 2000, PP.570-584. SEMI M3-1296, Specifications for polished monocrystalline 29 sapphire substrates”, 1978~1996. http:www.shcsso.com.cn. 30 http:www.rodel.com. 31 G. E. P. BOX, W. Hunter, J. S. Hunter, “Statistics for Experimenters”, 1978. F. W. Preston, “The Theory and Design of Plate Glass PolishingMachine”, Journal of the society of glass technology, 1927, pp. 214 ~ 256. Ronald E. MILLER , “OPTIMIZATION-Foundation and Applications”, 2000. 32 33 130 , 1984, PP.120-128. 錄A 藍 A.1 藍 Item Parameters Decription Sample Data Unit 1 Diameter 50.8 50.79-50.80 mm 2 Thickness Orientation 421-429 20∘-21∘ m 3 420 C-Plane 20∘ 4 TTV&BOW <40 4-16 m 5 ORF 16 15.2-16.8 6 Primary Flat Orientation A-Plane 0∘ ok 7 Edge Chips <0.15 ok A.2 Suba800 數 EP 100 νP (Mpa) 0.3 15µm 度(RMS) RP 10µm % 2.5~5.5 度(Asker-c) 79~85 度 1.3mm 131 mm mm A .3 NanoTek 料 NanoTek SiO2 Lot.No SIO30519H2 數量 1.0kg F 96.6m2/g SiO2 nd 99.9 Na 10 Mg 20 Al 20 P 50 S 10 Cl 30 K nd Ca nd Ti nd Cr 40 Mn nd Fe 190 Co nd Ni 40 Cu 50 Zn nd W nd 10ppm 132 錄B量 藍 度 量 Nano Indenter 度 度 Hv = 量 F 24.5hc2 度 Hv GPa UP1 60.62 UP2 37.48 UP3 33.31 Hv 度 GPa 43.88 度 量 度 Hv GPa med1 45.3 med2 28.26 med3 12.1 度 Hv )GPa 28.55 度 量 度 Hv GPa down1 39.8 down2 28.2 down3 29.8 度 133 度 Hv )GPa 32.6 錄C藍 度量 C.1 C.2 DI-3100 51 µN 度 4.21Gpa 202 µN 度 10.21Gpa 134 C.3 C.4 401.53 800 135 µN µN 度 12.81Gpa 度 20.7Gpa 錄 D DMCP D.1 數 (DOE) PNT(- - -)(+:high level -:low level) 量 µm ( 料 度) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 4 2 1 0 0 4 5 1 1 2 2 2 6 3 2 3 3 2 1 6 3.11 3 5 7 3 3 3 0 2 2 5 3.33 2.8148 度 433.3 D.2 PNT(- - -)(+:high level -:low level) 量 度 µm ( 量) 數 量 1 2 3 4 5 1 0.21 0.41 0.28 0.3 0.23 0.286 2 0.17 0.53 0.42 0.38 0.44 0.388 3 0.45 0.4 0.34 0.25 0.43 0.374 0.3493 0.7913 0.442 度 0.7913 D.3 PNT(+ - -)(+:high level 量 -:low level) µm ( 料 度) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 9 8 6 8 12 8 8 10 9 8.66 2 8 8 9 8 10 10 11 12 9 9.44 3 8 11 7 8 10 13 11 12 12 10.22 9.44 度 441 D.4 PNT(+ - -)(+:high level 量 -:low level) µm ( 度 量) 數 量 1 2 3 4 5 1 0.09 0.08 0.07 0.5 0.2 0.188 2 0.09 0.22 0.52 0.1 0.58 0.302 3 0.25 0.14 0.1 0.16 0.08 0.146 度 0.7913 136 0.212 0.7913 0.5793 D.5 PNT(- + -)(+:high level 量 -:low level) 料 µm ( 度) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 10 9 6 3 2 3 2 2 4 4.55 2 9 1 2 7 4 9 5 7 5 5.44 3 11 10 10 1 8 9 11 9 8 8.55 6.187 度 433.3 D6 PNT(- + -)(+:high level -:low level) 量 度 µm ( 量) 數 量 1 2 3 4 5 1 0.45 0.59 0.05 0.92 0.37 0.476 2 0.43 1.13 0.91 0.25 0.99 0.742 3 0.17 0.23 0.13 0.21 0.59 0.266 0.494 0.7913 0.296 度 0.7913 D.7 PNT(+ + -)(+:high level -:low level) 量 料 µm ( 度) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 12 20 12 7 8 9 7 7 7 9.888 2 9 10 8 9 10 12 8 8 15 9.888 3 19 21 9 8 8 21 10 9 17 13.555 11.29 度 465 D.8 PNT(+ + -)(+:high level -:low level) 量 µm ( 度 量) 數 量 1 2 3 4 5 1 0.02 0.02 0.03 0.01 0.03 0.022 2 0.02 0.04 0.01 0.04 0.02 0.026 3 0.02 0.01 0.01 0.02 0.01 0.01 度 0.7913 137 0.019 0.7913 0.772 D.9 PNT(- - +)(+:high level 量 -:low level) µm ( 料 度) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 7 2 2 4 1 1 -3 1 -1 1.55 2 7 4 8 6 8 8 8 6 7 6.88 3 2 4 6 2 3 4 2 3 4 3.33 3.925 度 431) D.10 量) PNT(- - +)(+:high level 量 -:low level) 度 µm ( 數 量 1 2 3 4 5 1 0.09 0.45 0.23 0.22 0.21 0.24 2 0.12 0.1 0.31 0.11 0.06 0.14 3 0.26 0.19 0.1 0.29 0.09 0.186 0.1886 0.7913 0.602 度 0.7913 D.11 六 PNT(+- +)(+:high level 量 -:low level) µm ( 料 度) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 6 4 6 7 7 7 4 8 11 6.66 2 11 9 8 8 11 8 9 12 8 9.33 3 6 9 6 7 8 9 10 12 7 8.22 7.888 度 447 D.12 六 PNT(+ - +)(+:high level -:low level) 量 µm ( 度量) 數 量 1 2 3 4 5 1 0.05 0.02 0.04 0.03 0.03 0.034 2 0.02 0.02 0.06 0.04 0.02 0.032 3 0.04 0.03 0.04 0.03 0.04 0.36 度 0.7913 138 0.034 0.7913 0.757 D.13 PNT(- + +)(+:high level -:low level) 量 料 µm ( 度) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 45 13 2 35 11 4 24 12 6 16.88 2 59 28 34 21 13 13 2 2 7 19.888 3 7 6 8 10 9 13 43 34 30 17.77 18.185 度 417 D.14 量) PNT(- + +)(+:high level -:low level) 量 度 µm ( 數 量 1 2 3 4 5 1 0.01 0.02 0.02 0.01 0.01 0.014 2 0.01 0.01 0.04 0.21 0.03 0.06 3 0.08 0.03 0.01 0.01 0.01 0.028 0.034 0.7913 -:low level) µm ( 0.757 度 0.7913 D.15 度) PNT(+ + +)(+:high level 量 料 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 38 32 35 34 36 45 40 36 25 35.66 2 35 45 36 38 29 34 46 45 47 39.44 3 45 49 43 41 41 40 44 34 35 41.33 38.235 度 420 D.16 量) PNT(+ + +)(+:high level -:low level) 量 1 2 µm ( 度 數 3 量 4 5 1 0.002 0.003 0.001 0.002 0.001 0.0018 2 0.002 0.003 0.001 0.001 0.004 0.0022 3 0.001 0.002 0.003 0.002 0.002 0.002 度 0.7913 139 0.002 0.7913 0.789 錄 E Scales for Normal Probability E.1 Scales for Normal Probability 31 140 錄 F DMCP F.1 數 料 µm ( 量 度) T(+) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 32 32 27 21 18 27 28 18 26 25.444 2 19 18 24 39 23 24 25 34 29 26.222 3 18 28 30 35 17 28 35 26 16 25.888 度 465 F.2 P=2.5Kg/cm2 N=35rpm T=150mins 度 µm ( 量 量) T(+) 數 1 2 3 4 5 1 0.001 0.0016 0.0016 0.0017 0.001 0.0014 2 0.0014 0.0014 0.0014 0.002 0.002 0.00172 3 0.0013 0.0014 0.0024 0.0016 0.0015 0.0016 P=2.5Kg/cm2 0.00162 N=35rpm T=150mins F.3 料 µm ( 量 度) T(0) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 19 20 23 20 27 23 20 16 18 20.666 2 18 13 20 20 17 19 20 26 18 19.222 3 21 21 28 23 21 21 14 21 23 21.444 度 468 F.4 2 P=3.5Kg/cm 量 20.444 N=35rpm T=90mins 度 µm ( 量) T(0) 數 1 2 3 4 5 1 0.0011 0.0023 0.0022 0.002 0.0025 0.002 2 0.0045 0.0045 0.0045 0.0027 0.0039 0.0039 3 0.0012 0.0010 0.0010 0.0025 0.0010 0.0010 P=3.5Kg/cm2 29.87 N=35rpm T=90mins 141 0.0023 F.5 料 µm ( 量 度) T(-) 數 1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 12 15 16 9 12 13 10 13 9 12.222 2 11 13 8 12 10 9 9 9 8 9.888 3 8 10 8 10 8 11 15 15 8 10.333 度 465 F.6 P=5Kg/cm2 N=25rpm T=30mins 度 µm ( 量 量) T(-) 數 1 2 3 4 5 1 0.0014 0.0013 0.0015 0.0015 0.0014 0.00144 2 0.0014 0.0015 0.0016 0.002 0.0015 0.0016 3 0.00145 0.0019 0.0016 0.0015 0.0016 0.0016 P=5Kg/cm2 10.7 N=25rpm T=30mins 142 0.00156 錄G 量 G.1 DMCP G.1 CMP 藍 藍 藍 143 錄H H .1 料 料 理 理 料 理 SiO2 a=4.914 A 數 c=5.405A 2.32 g/cm3 度 7 ( 9.81GPa) 度 1575 MPa 度 0.17~0.26 105 GPa 數 31.4 GPa 數 228GPa 臨 741 J/(kg • оС) 11.43W/(m •K) 數 1728 C 0.34 × 10-6 m2/s 數 Berkovich 量 度 144 H .2 藍 理 藍 理 Al2O3 a=4.765 A 數 c=13.00 A 度 3.98 g/cm3 度 9 34.5G Pa 2100 MPa 度 0.25~0.30 345GPa 數 145GPa 數 448GPa 臨 761J/Kg‧ 41.9 (W/(m‧K )) at 20 數 2040 C 8.0 × 10-6 m2/s 數 Berkovich 量 度 145 錄I 參數 參數 I .1 SiO2 料 數 105 GPa 0.3 料 13nm 度 9.81GPa 藍 數 345GPa 0.17 3980 Kg/m3 度 8x10-6 m2/s 數 420 J/Kg*K 數 料 41.9 W/mK 藍 數 理 0.85 數 8.314 kJ/kmol.K 14.48 kJ/mol 數 數 0.07~0.23 146 m/min 錄 J MATLAB 6.1 M-file 參數 % ds=input(' (mm)-->') 力(kgf)-->') force=input(' w_wafer=input(' (rpm)-->') w_pad=input(' t=input(' (rpm)-->') (min)-->') 度( Tb=input(' )-->') % centigrade degree e_pad=90 % e_wafer=40 % (mm) (mm) force_3=force/3 料 % % 料 狀 參數 E1=105000000000 % v1=0.3 % R1=13/1000000000 % S1=3/1000000000 % H=9810000000 % % 數(N2/m) 料 (m) 度 (m) 度 (N2/m) 參數 E2=345000000000 % v2=0.17 % R2=0 % S2=0 % 147 數(N2/m) 數 % e1=(1-v1^2)/E1 e2=(1-v2^2)/E2 E_q=1/(e1+e2) R_q=R1 S=(S1^2+S2^2)^(0.5) G_W=(E_q/H)*((S/R_q)^0.5) % G_W pad_bar=(5)/(100*100/1000000) % 料數/mm2 aver_wafe=(1/4)*3.14*(ds^2)*pad_bar % 料數 W=(force_3)/(aver_wafe) % 力(kgf) W_E=(W^2)/(R_q*(E_q^2)) % 力(kgf/m2) h_a=(9/16*W_E)^(1/3) % 量(m) A_pa=2*3.14*h_a*R_q % (m2) a=(W/(3.14*H))^(0.5) % (m) % 料 率 % peclet number de=3980 % 度(kg/m3 ) X=8/1000000 % (m2/s) spec=420 % (j/kg*k) K=41.9 % 數(w/mk) fric=0.85 % 數 u_wafer=w_wafer*(3.14/30)*e_wafer % 切 度(mm2/s) u_pad=w_pad*(3.14/30)*e_pad % 切 度(mm2/s) U=u_pad-u_wafer X=K/(de*spec) L=(U*a)/(2*X) % peclet number 148 Tf=0.125*(fric)*(U/1000)*(force_3^0.5)*((3.14*H)^0.5)/K 度( % Tc=Tf+Tb ) 度( % ) % Rg=8.314 %理 Eact=14.48 % K_o1=0.23 % 數(um/min) K_o2=0.07 % 數(um/min) K_o3=0.149 % 數(um/min) Tck=Tc+273.2 (kj/kmol.k) (kj/mol) %( k) K_1=K_o1*exp(-1*Eact/(Rg*Tck)) % 率(um/min) K_2=K_o2*exp(-1*Eact/(Rg*Tck)) % 率(um/min) K_3=K_o3*exp(-1*Eact/(Rg*Tck)) % 率(um/min) % 度 料 A_O=3.14*(13/1000000000)^2 % re_action_1=K_1*(A_pa/A_O)*t % 度 (um) re_action_2=K_2*(A_pa/A_O)*t % 度 (um) 度 re_action_3=K_3*(A_pa/A_O)*t 149 錄K 路 MATLAB 6.1 vs=input(' (rpm)-->'); vp=input(' (rpm)-->'); e=input(' (mm)-->'); ds=input(' (mm)-->'); ra=input(' 料 (mm)-->'); any_rd=input(' (inch)-->'); t=input(' (sec)-->'); Q1=input(' 度(deg)-->'); force=input(' 力(kgf)-->'); %% M-file %% HU=36.4633*1000 % force_3=force/3 % 度(N/mm2) (kgf) t_n=t*10 rs_n=5 % deg1=Q1*2*pi/360 ws=(pi/30*(vs)) wp=(pi/30*(vp)) wa=(ws-wp); rs=ds/2 time=linspace(0,t,t_n); any_rdd=linspace(0,rs,rs_n) any_rd=linspace(0,rs,rs_n) any_rd(rs_n)=[] 150 5 R1=40 R2=70; % theta_1=0:0.02:2*pi; for r=1:1:315; % x1(r)=195*cos(theta_1(r)); y1(r)=195*sin(theta_1(r)); x2(r)=(e-R2)*cos(theta_1(r)); y2(r)=(e-R2)*sin(theta_1(r)); x3(r)=(e+R2)*cos(theta_1(r)); y3(r)=(e+R2)*sin(theta_1(r)); end wa=ws-wp i=0 j=0 k=1 u=1 for j=1:1:(rs_n-1) for i=1:1:t_n path_x(i,j)=(e*cos(wp*time(i)))+((R1+any_rd(j))*cos(wa*time(i)+deg1)); % 料路 for i 量 path_y(i,j)=(e*sin(wp*time(i)))+((R1+any_rd(j))*sin(wa*time(i)+deg1)); % 料路 for j 量 end end 151 length=[path_x path_y]; 路 % k=1 h=1 for h=1:(rs_n-1) for k=1:1:(t_n-1) total_path(k,h)=sqrt((length(k+1,h)-length(k,h))^2+(length(k+1,h+(rs_n1))-length(k,(h+rs_n-1)))^2); 路 % end end pad_bar=(5*20)/(100*100/1000000) % 料數/mm2 aver_wafe=(1/4)*3.14*(ds^2)*pad_bar % 料數 料 % 度 p=(force_3)/(aver_wafe) Ch=0.1944*((p/HU)^0.5) % 度(mm) % 料 ra_ch=(ra^2-(ra-Ch)^2)^(0.5) fract_area=Ch*ra_ch 料 % 度 z=1 for z=1:1:(rs_n-1) s_total(z)=sum(total_path(1:(t_n-1),z)) % A(z)=3.14*(1/360)*((any_rdd(z+1))^2-(any_rdd(z))^2) mr(z)=s_total(z)*A(z)*fract_area*pad_bar end total_mrv=sum(mr) 152 aver_mrv=total_mrv/4 料 % aver_depth=aver_mrv/((1/360)*3.14*25.4*25.4) % plot(x1,y1,'b',x2,y2,'b',x3,y3,'g--'); % hold on for g=1:(rs_n-1) plot(path_x(1:t_n,g),path_y(1:t_n,g),'-'); hold on end axis equal hold off 153 料 度 路 錄L MATLAB 6.1 t=input(' (+1 0 M-file -1)-->') n=100; x1=2*rand(1,n)-1; y1=2*rand(1,n)-1; y_mrb=12.246+8.9365.*x1+12.456.*y1+9.624*t+3.64.*x1.*y1+9.847*t. 料 *y1+4.403*t.*x1.*y1; y_rqb=0.1678-0.1986.*x1-0.0576.*y1-0.20513*t-0.0531.*x1.*y1+0.1053 度 .*t.*x1-0.0366.*t.*y1; 濾 不 理 yy=y_rqb>0.001; zz=y_mrb>0; ww=(y_rqb)./(y_mrb); aa=yy.*zz; idx=find(aa); y_r_m=ww(idx); yy2=y1(idx); xx2=x1(idx); y_r_m1=y_r_m>0.00005; idx=find( y_r_m1); y_r_m2=y_r_m(idx); xx3=xx2(idx); yy3=yy2(idx); y_mrb2=12.246+8.9365.*xx3+12.456.*yy3+9.624*t+3.64.*xx3.*yy3+9. 154 847*t.*yy3+4.403*t.*xx3.*yy3; y_rqb2=0.1678-0.1986.*xx3-0.0576.*yy3-0.20513*t-0.0531.*xx3.*yy3+ 0.1053.*t.*xx3-0.0366.*t.*yy3; y_ww=(y_rqb2)./(y_mrb2); [sorted,index]=sort( y_ww); y_min_ratio=sorted(1); I=index(1); xr2=xx3(I); yr2=yy3(I); y_mr=y_mrb2(I); y_rq=y_rqb2(I); 列 fprintf(1,'y_mr*: %10.12f um',y_mr); fprintf(1,'y_rq*: %10.12f um',y_rq); fprintf(1,'X0*: %10.12f ',xr2); fprintf(1,'Y0*: %10.12f ',yr2); 參數 k=1; 數 while k<5000; x1k=2*rand(1,n)-1; 亂數 y1k=2*rand(1,n)-1; 亂數 y_mrbk=12.246+8.9365.*x1k+12.456.*y1k+9.624*t+3.64.*x1k.*y1k+9. 847*t.*y1k+4.403*t.*x1k.*y1k; y_rqbk=0.1678-0.1986.*x1k-0.0576.*y1k-0.20513*t-0.0531.*x1k.*y1k+ 0.1053.*t.*x1k-0.0366.*t.*y1k; 濾 不 理 155 yyk=y_rqbk>0.001; zzk=y_mrbk>0; wwk=(y_rqbk)./(y_mrbk); aak=yyk.*zzk; idx=find(aak); y_r_mk=wwk(idx); yyk2=y1k(idx); xxk2=x1k(idx); y_r_m1k=y_r_mk>0.00005; idx=find( y_r_m1k); y_r_m2k=y_r_mk(idx); xxk3=xxk2(idx); yyk3=yyk2(idx); y_mrb3=12.246+8.9365.*xxk3+12.456.*yyk3+9.624*t+3.64.*xxk3.*yyk 3+9.847*t.*yyk3+4.403*t.*xxk3.*yyk3; y_rqb3=0.1678-0.1986.*xxk3-0.0576.*yyk3-0.20513*t-0.0531.*xxk3.*y yk3+0.1053.*t.*xxk3-0.0366.*t.*yyk3; y_wwk=(y_rqb3)./(y_mrb3); 料 [sortedk,indexk]=sort( y_wwk); y_min_ratiok=sortedk(1); H=indexk(1); xr2k=xxk3(H); yr2k=yyk3(H); y_mrk=y_mrb3(H); y_rqk=y_rqb3(H); 156 料 if y_mrk< y_mr; 度 else fprintf(1,'y_mrk2*: %10.12f um',y_mrk); fprintf(1,'y_rqk2*: %10.12f um',y_rqk); 列 fprintf(1,'X2*: %10.12f ',xr2k); fprintf(1,'Y2*: %10.12f ',yr2k); 列 y_mr=y_mrk zz1=0<y_mrb3<40; zz2=0<y_rqb3; idx1=find(zz2); y_rqb4=y_rqb3(idx1); idx1=find(zz1); y_mrb4=y_mrb3(idx1); yyk4=yyk3(idx1); xxk4=xxk3(idx1); 行 [x,y]=meshgrid(-1:0.01:1,-1:0.01:1); [X,Y]=meshgrid(-1:0.01:1,-1:0.01:1); z=griddata(xxk4,yyk4, y_mrb4,x,y); z1=griddata(xxk4,yyk4, y_rqb3,X,Y); close all subplot(1,2,1);meshc(x,y,z);axis tight hold on 157 參數 subplot(1,2,2);meshc(X,Y,z1);axis tight hold on subplot(1,2,1); plot3(xxk4,yyk4,y_mrb4,'o'); axis tight [sortk,indek]=sort( y_mrb4); A=sort( y_mrb4); B=indek; y_mr_max=A(1,end); HI=B(1,end); xr2=xxk4(HI); yr2=yyk4(HI); plot3(xr2,yr2,y_mr_max,'k:X'); axis tight hold on subplot(1,2,2);plot3(xxk4,yyk4,y_rqb4,'o'); axis tight y_rq=y_rqb4(HI); plot3(xr2,yr2,y_rq,'k:X'); axis tight axis tight;hidden off k % end k=k+1; % end 158 數 65 年 5 24 省 歷 立 93.6 立 88.6 省立 83.6 11 08 E-mail 796-1308 [email protected] 93 機 立 械 台灣科技大學 工 程 系 碩士 文 乾式機械化學拋光在單晶 藍 寶石晶圓之平坦化加工研究 古 振 瑭 撰
© Copyright 2024 ExpyDoc