ANNEXE 1 Entreprises, pour proposer un sujet de thèse soutenue par le dispositif CIFRE, merci de remplir les champs suivants, et d’envoyer le document à : [email protected] Si vous souhaitez ajouter un descriptif plus détaillé de l’offre à votre annonce, merci de le joindre accompagné de ce formulaire. ● Nom de l’entreprise* : ST Microelectronics ● Ville et ● Nom code postal* : 38926 CROLLES du laboratoire académique partenaire (si déjà connu) : ……….…………………………………………………………………….. ● Numéro de reconnaissance du laboratoire : …………………………………………………………………………………………………………. ● Thématique de recherche en une phrase(sans aucun caractère confidentiel) * : Développement de nouvelles techniques optiques de localisation de défaut pour l’analyse de défaillance sur technologie 28nm et 14nm FDSOI. ●Descriptif de la thématique de recherche (sans aucun caractère confidentiel) * : L’évolution des technologies de circuits intégrés conduisant à une réduction de la taille des transistors (40nm, 32nm, 28nm, 20nm) et à l’introduction de nouveaux matériaux (« higk K Metal gate », « Fully Depleted Silicon On Insulator ») ont complètement modifiés les méthodes optiques de localisation de défaut en analyse de défaillance. Les équipements de localisation ont dû évoluer afin de couvrir la réduction de taille des transistors par des gains en grossissement, résolution et sensibilité. De nouvelles techniques optiques de localisation ont dû être développées pour adresser les nouveaux mécanismes de défaillances générés par les nouveaux matériaux. poste* : L’objectif de cette thèse est de développer de nouvelles applications de localisation de défaut en partant de l’état de l’art des techniques par photo-emission et par cartographie en laser réfléchi.Le domaine d’exploration et les expérimentations pour la recherche de nouvelles techniques seront cadrés par rapport au matériel disponible au labo. ●Descriptif du En photo-emission, les recherches porteront sur l’analyse spectrale de la lumière avec pour objectif d’étudier les nouveaux modes d’émission de lumière relatifs à la techno FDSOI ( « tunneling », self heating ») et de mettre en place une solution fonctionnelle de catégorisation et de localisation de défauts. En cartographie par laser réfléchi, les développements sur les techniques dérivées de localisation par la cartographie de fréquence ont connu un essor notable ces 5 dernières années. De nouvelles applications ont été développées dans notre labo (TFI, LVI 2nd harmonique) et sont maintenant suffisamment matures pour être utilisées comme techniques standards. D’autre labos et universités ont également démontré l’intérêt de la cartographie en laser réfléchi par détection de phase par ampli lock-in avec des preuves de concept/faisabilité encourageantes. Cependant ces applications ont toutes été développées pour des séquences de signaux numériques périodiques (signal d’horloge, séquences de données formatées…). Le domaine d’exploration de cette thèse concernera la cartographie par laser réfléchi de signaux numériques non périodiques (exemple: flow de données numérique) et de signaux analogiques subissant des distorsions ou des effets non-linéaires engendrés par un défaut (exemple : échauffement thermique localisé, diodes…) Le domaine de recherche consistera donc à mettre en place de nouvelles techniques de cartographie laser et de localisation de défaut essentiellement par l’analyse harmonique ou de phase des signaux. ● Date de recrutement* : Octobre 2014 ● Adresse e-mail à laquelle le candidat doit envoyer sa candidature* : [email protected] / [email protected] *champs obligatoires