のご紹介 光ファイバ1本で、広範囲なひずみ・温度計測を実現!! FBI-Gaugeは光ファイバをセンサとして活用した、ひずみや温度のセンシングシス テムです。光ファイバに沿って連続的に計測できるため、点計測だけでなく連続的 で広範囲な線・面計測が可能となります。大量のひずみゲージや熱電対を使用しな いため、設置コストと設置時間を大幅に削減できます。 ホワイトボディ剛性試験 積雪時のルーフたわみ試験 FBI-Gaugeのメリット 点計測ではなく線・面の計測が可能 センサ重量が大幅に低減 電磁波環境・火気厳禁環境で使用可能 自由なレイアウトで貼付可能 1本のセンサでひずみ、温度と多彩な計測が可能 エアコン温度分布計測 ラジエータ温度分布計測 樹脂射出成形金型 温度/ひずみ計測 座席周り温度分布計測 ウォータジャケット 温度計測 オイルタンク 温度/ひずみ計測 自動車関連実施例 インタクーラ温度計測 ボルト締付時ボア変形計測 エキゾースト温度分布計測 溶接時のひずみ計測 エンジンルーム内温度分布計測 圧力容器の加圧試験 CYL #1 10mm Fuji Technical Research Inc. のご紹介 ハードウェア仕様 レイリー散乱光 ｘ OFDR = 高速広範囲分布型計測 機器モデル 波長可変レーザーを光ファイバに入射し、レイリー散乱光による特定波長の反射光 を検出します。ファイバの伸縮がおこった部分のみレイリー散乱光の波長が変化し ます。検出にはOFDR方式を採用し、高速に広範囲にわたって計測が可能です。 分光器 波長可変レーザー光源 光ファイバ レイリー散乱光λ B-10 測定ファイバ長さ 1～50m 1～20m データ取得率 ～2.5Hz 23.8～250Hz 最小センシング間隔 1.0mm 0.64～2.56mm 最小ゲージ長さ 1.0mm 1.28～5.12mm ±10,000με ±10,000με ±2με ±5～±20με ひずみ測定 測定範囲 レイリー散乱 繰返し測定精度 分子 入射光λ 温度測定 検出器 ファイバ内のレイリー散乱 光ファイバ内のレイリー散乱光の波長分布は、 製造時の密度ムラや不純物によって決まります。 出荷時に予め計測することによって、 どの部分がどの波長分布かを取得しています。 波長に対し、1/10～1/1000サ イズの分子による散乱光です。 身近な例は空が青いことなどに なります。 -50～300℃(通常) -200～800℃(金コーティング) 測定範囲 繰返し測定精度 ±0.2℃ ±0.4～±1.6℃ ソフトウェア仕様 3次元評価機能（3次元カラーコンター表示 カンチレバーひずみ計測例 他） 3次元形状マッピング機能 光ファイバを下写真のようなカンチレ バー（片持ち梁）の上面、下面に貼付し、 先端に荷重をかけた事例。 FBI-Gaugeではグラフのように ひずみ分布を計測することができます。 ① ② ③ A-50 3次元寸法測定機能 ① 2次元グラフ機能 3次元グラフ機能 ② 各種フィルタリング機能（メディアン 上面は引張りによる正のひずみ 荷重がかかっていない折り返し部分 下面は圧縮による負のひずみ 各種支援機能（温度補正機能 他） 他） ③ 荷重F ひずみゲージ 3mm コイン直径 18mm 右図が実際に用いてる光ファイバセンサ 直径 155μmと非常に細い。 光ファイバセンサ 直径155μm お問い合わせ 株式会社富士テクニカルリサーチ 〒220-6215 神奈川県横浜市西区みなとみらい2-3-5 クイーンズタワー C15F Tel：045.650.6650 Fax： 045.650.6653 Mail： [email protected] Fuji Technical Research Inc.
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