本案内状のPDF版はこちら - アメテック株式会社の最新情報

アメテック株式会社
光学産業向けセミナー
光学部品の超精密加工と測定
- 最新のアプリケーションご紹介 -
2015 年にご好評を頂いた弊社光学産業向けセミナーに、今年はザイゴ事業部を迎えて開催をさせて頂きます。
プレシテック事業部からは超音波やレーザ等を用いた難加工材の加工のご提案、テーラーホブソン事業部からはフォーム
タリサーフによる自動化測定事例、また改良された LUPHOScan の新しい機能のご紹介、ザイゴ事業部からは新製品を含
むザイゴ事業部取扱商品の説明を行わせていただきます。
日時 :2017 年 1 月 26 日 ( 木 ) 12:30 開場 13:00 開始
会場 : くるまプラザ会議室〒 105-0012 東京都港区芝大門 1-1-30 芝 NBF タワー 1F
※アメテック本社ビル 1F ( タリーズの横です )
費用 : 無料
申込方法 : 弊社ウェブサイト ( 短縮 URL:http://goo.gl/2VFDVA ) 上のフォームから、または本紙に記入の上
右下申込先に FAX・メールにてお送り下さい。※競合他社様のご参加はお断りさせて頂く場合がございます。
- プログラム - ※講演は全て日本語で行われます。
12:30
開場
13:00 ～ 13:05
開会のご挨拶
13:05 ～ 13:15
「イントロダクション :-AMETEK UPT の技術と戦略について」
13:15 ～ 14:00
「プレシテックの装置を用いた難加工光学用途材料のダイヤモンド切削についての新しい提案」
14:00 ～ 14:45
解析およびデータの一括管理の紹介」
14:45 ～ 15:00
- コーヒーブレイク -
※ ZYGO 製品の国内販売窓口はキヤノンマーケティングジャパン ( 株 ) 産業機器販売事業部 ZYGO 部となります。
閉会のご挨拶
16:35 ～ 17:30( 予定 )
テーラーホブソンショールーム見学会
17:00 前後 ( 予定 ) ～
技術交流会
渡邉慎太郎
- 非球面、円筒、自由曲面」
16:30 ～ 16:35
ザイゴ事業部
「走査型マルチ波長干渉計 LUPHOScan の新機能とアプリケーション事例のご紹介
テーラーホブソン事業部　積田慎吾
「Zygo 事業部の製品のご紹介」
15:45 ～ 16:30
AMETEK Precitech, Inc. 橋本剛
「非球面測定機 Form Talysurf PGI と自動ステージを使用した非球面レンズのバッチ測定、
15:00 ～ 15:45
テーラーホブソン事業部熊佐淳司
テーラーホブソン事業部　田中真一
※立食形式でのざっくばらんな交流会です。
参加申し込み
技術交流会参加の有無 ( チェックしてください ):
□参加する
□参加しない
氏名 :
会社名 :
役職 :
部署 :
TEL: E-Mail アドレス :
住所 : 〒
お申込み・お問い合わせ先 :TEL:03-6809-2406 FAX:03-6809-2410
Email:[email protected]
http://www.taylor-hobson.jp
アメテック ( 株 ) テーラーホブソン事業部マーケティンググループ秋葉
日時 :2017 年 1 月 26 日 ( 木 ) 12:30 会場 13:00 開始
会場 : くるまプラザ会議室
〒 105-0012 東京都港区芝大門 1-1-30 芝 NBF タワー 1F
※アメテック本社ビル 1F、タリーズの横です。
都営大江戸線・大門駅から　徒歩 10 分
都営三田線・御成門駅から　徒歩 5 分
JR・浜松町駅から　徒歩 10 分
セミナー参加のお申込みは、
ウェブサイトからが便利です。
http://goo.gl/2VFDVA
Nanoform X
本装置は、光学レンズ、金型、超精密機械部品等
の様々な加工 ( ダイヤモンド切削、フライス加工、
研削加工等 ) が可能です。最大 4 軸までの構成で
球面、非球面、自由曲面（最大 440mm）の加工
ができます。
フォームタリサーフ PGI-Matrix
本装置は、回転軸及び Y 駆動軸を備え、多数小
部品やレンズアレイ等の自動化測定が可能です。
光学部品測定に特化した専用ソフトウェアは、非
球面係数の入力で自動的に測定範囲の決定がで
きる等、オペレータの負担を可能な限り軽くする
設計が成されています。
ザイゴ事業部製品紹介
ザイゴ事業部は干渉計の先駆者として高精度な
メトロロジーソリューションを提供します。
・光学メトロロジー ( 顕微鏡タイプ白色干渉計、
レーザ干渉形式形状測定気 )
・精密位置決めソリューション ( レーザヘッド、
光学干渉ユニット、測定ボード、OEM 商品 )
・高精度光学製品 ( カスタム光学部品、高精度光
学システム )
LUPHOScan
ハードウェアを改良し、測定再現性 PV99 (4 σ
)< ± 15nm を達成した LUPHOScan HD モデルを
本年リリースいたしました。また薄膜レンズやよ
り柔軟な形状への対応を可能にする LUPHOScan
ソフトウェアアルゴリズムを開発しました。
地図等は、
下記 URL または QR コードからも
アクセスできます。
https://goo.gl/LYhE1V

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