Agenda

Stand: 04.10.2016
Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Experimentelle Fabrik
Lehrstuhl EMV, Leiter: Prof. Dr.-Ing. R. Vick
14. Magdeburger EMV Industrieseminar:
Termin:
Dienstag, 25. Oktober 2016
Ort:
Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Lehrstuhl EMV; in der Experimentellen Fabrik Magdeburg (ExFa, Sandtorstraße 23, 39106 Magdeburg)
Anmeldung:
Anmeldeformular unter:
Liste der Fachbeiträge und Aussteller unter:
Organisation:
http://www.emv.ovgu.de
Koordinator EMV Unterstützung [email protected]
Sekretariat:
[email protected]
Teilnahmegebühren:
Anfahrt:
http://www.emv.ovgu.de
- keine -
Beschreibung unter
http://exfa.de
Mobilfunk: 0178 8542 487
Agenda: 14. Magdeburger-EMV-Industrieseminar 2016
Stand: 04.10.2016
Termin: Dienstag, 25. Oktober 2016
Ort:
Otto-von-Guericke-Universität Magdeburg, Lehrstuhl EMV; in der Experimentellen Fabrik Magdeburg (ExFa, Sandtorstraße 23, 39106 Magdeburg)
PLENARVERANSTALTUNGEN: im großen Konferenzraum (2-3) des IFF - (Kapazität. max. 230 Teilnehmer)
09.00-09.15 Uhr
Eröffnung der Veranstaltung: Prof. Vick
09.15-10.15 Uhr
Thema 1.1: „Einsatzbereiche und Grenzen der SMD-Ferrite (Multilayer)“
Schwerpunkte:
- ausgewählte Einsatzbereiche (Spannungsversorgung, Datenleitung)
- Grenzen der Filterwirkung (Frequenzbereich, Nutzsignaldämpfung)
- neue Erkenntnisse zum Verhalten und den Risiken bei Stromspitzen durch Schaltvorgänge
- richtige Auswahl und Berechnungsmodelle für den Praktiker
- Darstellung praktischer Messbeispiele (z. B. WE-CBF (chip bead ferrite) wide band, high speed und high frequency, inclusive Unterschiede benennen und
messen.)
Weitere Stichwörter:
Pulsstromfeste SMD-Ferrite WE-MPSB (multilayer power suppression bead), Nutzung des RedExpert
Würth Elektronik eiSos Gruppe – eiSos
Referenten: Herr Andreas Temmler, Herr Steffen Schulze
10.15-10.45 Uhr
Kaffeepause u. Industrieausstellung (in den Räumen der EXFA)
10.45-11.45 Uhr
Thema 1.2: „Hocheffiziente Miniaturspeicherinduktivitäten mit Eisenlegierung WE-MAPI“
Schwerpunkte:
- Vorstellung der WE-MAPI (metal alloy power inductor)
- Vorteile der neuen Verlustbetrachtung von Würth Elektronik (AC-Verluste)
- Vergleich der Gesamtwirkleistungsverluste von WE-MAPI mit Spulen mit gesintertem Ferritmaterial (Nutzung des RedExpert)
Thema 2: „Energy Harvesting ist keine Fiktion mehr?“
Schwerpunkte:
- Wie können unterschiedlichste physikalische nichtelektrische Effekte ausgenutzt werden?
- Wie erfolgt die spezifische Abstimmung der elektrischen Systeme auf die „geerntete Energie“?
- In welcher Form geschieht das Design für das System aus Energiewandler, Energiespeicher und Elektroniklösung in Abstimmung mit dem Energiebedarf der
Verbraucher und den konkreten energetischen Anregungsbedingungen? Gibt es hierbei auch neue Auswirkungen auf die EMV?
- Live Vorführung bestehender Energy Harvesting Systeme
Würth Elektronik eiSos Gruppe - eiSos
Referenten: Herr Lorandt Fölkel
11.45-12.30 Uhr
Thema 3: Wireless power charging - Kabellose Energieversorgung für viele Anwendungsbereiche?“
Neben Smartphones und Tablets gewinnt die kabellose Energieübertragung immer mehr an Bedeutung in Anwendungen der Medizintechnik und Industrie. Die
innovative Technologie bietet viele Möglichkeiten, Probleme bei kabelgebundener Energieversorgungen zu lösen.
- Welche Technologien und Standards gibt es dazu?
- Was sind die Anwendungen und Märkte?
- Was ist bei der Spulenauswahl zu beachten?
- Welche Musterlösungen und Referenzdesigns können genutzt werden? Was ist bei der Zulassung zu beachten?
Der Vortrag ist auf praxisbezogene Inhalte konzipiert, um den Nutzer eine Hilfestellung bei der Umsetzung in ihrer Anwendung zu geben.
Würth Elektronik eiSos Gruppe - eiSos
Referenten: Herr Jörg Hantschel
Reservevorträge:
12.30-13.15 Uhr
Mittagspause (in den Räumen der EXFA - Bereich Absorberhalle) u. Industrieausstellung (in den Räumen der EXFA - Lobby u. Bereich der Maschinenhalle)
Workshop I
Workshop II
Workshop III
Workshop IV
Ort: im Konferenzraum 2 des IFF
Ort: im Konferenzraum 3 des IFF
Ort: im Konf.-raum der EXFA 1.OG
Ort: Lobby u. Halle in der EXFA
Firma: AR Deutschland
GmbH
Firma: Phoenix Contact
GmbH
Firma: Langer EMVTechnik GmbH
Aussteller Firmen u.
Lehrstuhl -EMV
Start: 13.15
Ende: 14.00 Uhr
für Gruppe Rot
Start: 13.15
Ende: 14.00 Uhr
für Gruppe Blau
Start: 13.15
Ende: 14.00 Uhr
für Gruppe Grün
Start: 13.15
Ende: 14.00 Uhr
für Gruppe Gelb
Titel:
Titel:
Titel:
Themen:
„EMV
Störfestigkeitsprüfungen mit
Multitone-Verfahren.“
- Prüfzeit zu verkürzen und
dennoch die strengen
Anforderungen der Prüfnorm
zu erfüllen, wie geht so
etwas?
„Synergien zwischen
Leiterplatte und Gehäuse.“
„Wie lassen sich
Steckverbinder aus EMVSicht beschreiben?“
Besuch spezieller technischer
Demonstrationen im
Ausstellungsbereich u. den
EMV-Laboren.
Hinweise: Raspberry Pi im
Schaltschrankgehäuse und die
Nutzung IT-gestützter
Konfiguratoren bei
unterschiedlichen Gehäusesystemen unter der
Einbeziehung der Leiterplatte
und industrie-gerechter
Anschlusstechnik.
Hinweise: Im Workshop
werden die Mechanismen der
Störbeeinflussung durch oder
mittels Steckverbinder
anschaulich dargestellt und
eine einfache Beschreibungen
für den Praktiker abgeleitet.
Referent:
Referent: Herr Carsten Stange
Hinweise: In diesem Vortrag
werden theoretische
Grundlagen des MultitoneVerfahrens betrachtet und
die praktische Realisierung,
sowie die Messergebnisse
dargestellt und diskutiert.
Referent: Dipl.-Ing. Alex van
den Berg, AR Deutschland
GmbH, Germany
Besichtigung der Exponate in
der Ausstellung.
(Themen siehe Liste im
Anhang 1)
Bemerkungen:
Konferenzraum 1 des IFF:
Reserveraum für weitere
ausgewählte Kurzvorträge u.
technische Demonstrationen
im Rahmen des Workshop IV
für jeweils kleine
Interessentenkreise (pro
Season max.20 Teilnehmer)
Siehe hierzu die operativen
Aushänge am Konferenztag!
Bereits vorgemerkt:
1. Firma Schurter AG
2. Firma Rohde &
Schwarz Vertriebs
GmbH & Co. KG
3. Firma CST Computer
Simulation
Technology AG
4. Firma AMETEK CTS
Germany GmbH
Compliance Test
Solutions
5. Firma RECOM Power
GmbH
14.00-14.15 Uhr
Raum wechseln
Raum wechseln
Raum wechseln
Raum wechseln
Start: 14.15
Ende: 15.00 Uhr
14.15-15.00 Uhr
14.15-15.00 Uhr
14.15-15.00 Uhr
Wiederholung des
Workshop-1 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Blau“.
Wiederholung des
Workshop-2 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Rot“.
Wiederholung des
Workshop-3 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Gelb“.
Wiederholung des
Workshop-4 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Grün“.
15.00-15.15 Uhr
Raum wechseln
Raum wechseln
Raum wechseln
Raum wechseln
Start: 15.15
Ende: 16.00 Uhr
15.15-16.00 Uhr
15.15-16.00 Uhr
15.15-16.00 Uhr
Wiederholung des
Workshop-1 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Grün“.
Wiederholung des
Workshop-2 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Gelb“.
Wiederholung des
Workshop-3 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Rot“.
Wiederholung des
Workshop-4 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Blau“.
16.00-16.15 Uhr
Raum wechseln
Raum wechseln
Raum wechseln
Raum wechseln
Start: 16.15
Ende: 17.00 Uhr
16.15-17.00 Uhr
16.15-17.00 Uhr
16.15-17.00 Uhr
Wiederholung des
Workshop-1 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Gelb“.
Wiederholung des
Workshop-2 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Grün“.
Wiederholung des
Workshop-2 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Blau“.
Wiederholung des
Workshop-2 für die
Teilnehmer der Gruppe
„Rot“.
17.30 Uhr
Ende der Veranstaltung
Verzeichnis der Aussteller:
1.
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20.
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23.
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25.
26.
Fa. AR Deutschland GmbH
Fa. AMETEK CTS Germany GmbH Compliance Test Solutions (EM Test, TESEQ)
Fa. CST Computer Simulation Technology AG
Fa. CYRO Pacific GmbH
Fa. CompuMess Elektronik GmbH
Fa. Epcos AG/TDK
Fa. Farnell
Fa. Feuerherdt GmbH
Fa. GAUSS INSTRUMENTS GmbH
Fa. Gudeco Elektronik Handelsgesellschaft mbH
Fa. H.-J. Seifert GmbH
Fa. Langer EMV-Technik GmbH
Fa. MPE-Garry GmbH
Fa. PIKATRON GmbH
Fa. pk components GmbH
Fa. Phoenix Contact GmbH
Fa. PMA Deutschland GmbH, ABB Group
Fa. Rohde & Schwarz Vertriebs GmbH & Co. KG
Fa. Rittal GmbH & Co. KG
Fa. Rutronik GmbH, RECOM Power GmbH
Fa. Schurter AG
Fa. SE-TEC GmbH
Fa. Telemeter Electronic GmbH
Fa. Würth Elektronik eiSos Gruppe - eiSos
Fa. Würth Elektronik eiSos Gruppe – eiCan
Stand der IEEE EMC Society
Anhang1:
Technische Demonstrationen u. Exponate in der Ausstellung:
Firma:
Fa. AR
Deutschland
GmbH
Fa. AMETEK CTS
Germany GmbH
Compliance Test
Solutions (EM
Test, TESEQ)
Fa. CST
Computer
Simulation
Technology AG
Gruppe
Scout 1:
Thema spezieller techn.
Demonstrationen in der
Ausstellung u. Präsentation
durch:
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Herr Alex van den Berg (GF),
Herr Jörg Voss
Firma:
Fa. Phoenix
Contact
Deutschland
GmbH
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Titel: "Aufbau von
Komponenten von
Störaussendungs- u.
StörfestigkeitsmessSystemen“
Herr Christian Stipp
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Titel: „Neue SW- Tools für
die EMV Simulation in der
HW-Entwicklung“
Fa. PMA
Deutschland
GmbH, ABB
Group
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Fa. Rohde &
Schwarz
Vertriebs
GmbH & Co.
KG
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Titel: "Funkstörmessung mit dem
R&S ESW EMI Test Receiver"
Inhalt: Demonstration FFTbasierter Zeitbereichsscan,
Vorselektionsfilter und Notch-Filter
für ISM-Band,
Echtzeitspektrumanalyse,
Spektrogramm, Automatisierung
von Messungen und
Reportgenerierung.
Herr Sandro Wenzel (Dipl.-Ing.
(FH),Vertrieb Messtechnik), Herr
Dirk Gnaß
Exponate:
Herr Dr. Tillmann Wittig
Fa. CYRO Pacific
Exponate:
Fa. Rittal
Gruppe
Scout 2:
Thema spezieller techn.
Demonstrationen in der
Ausstellung u. Präsentation durch:
Herr Manfred Tkocz, Herr Faber
Herr Heinz Seedorf
GmbH
Herr: Koppert
Fa. CompuMess
Elektronik GmbH
Fa. Epcos
AG/TDK
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Titel: „Praktische
Messaufbauten zur
Filterpraxis“
Herr Bjoern van Zwoll
GmbH & Co.
KG
Fa. Rutronik
GmbH,
RECOM
Power GmbH
Fa. Schurter
AG
Herr: Peter Sichting
Exponate zum Thema:
Herr Moritz Grebe
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Titel: „Praktische
Entstördemonstration an einer
realen Störquelle“
 Zeigen der Wirkungsweise
verschiedener diskreter
Entstör-Elemente- und
ganzer Filter.
 Als Störquelle kommt ein
Schaltnetzteil zum Einsatz,
das einen hohen Störpegel
über einen weiten
Frequenzbereich abgibt.
 Durch einen sicheren
Aufbau können die
verschiedenen
Komponenten, wie
Kondensatoren und
Drosseln, einfach gesteckt
werden.
 Die Box erlaubt
verschiedenste
Kombinationen der
Entstörelemente, - und
dies auch im laufenden
Messbetrieb.
 Es kann selbst die die
Wirkung der
verschiedenen
Filterkomponenten
ausprobiert werden.
Fa. Farnell
Fa. Feuerherdt
GmbH
Fa. GAUSS
INSTRUMENTS
GmbH
Fa. H.-J. Seifert
GmbH
Exponate:
Gudeco
Elektronik
Handelsgesell
schaft mbH
Fa. SE-TEC
GmbH
Herr Kevin Kohlstedt
Exponate:
Frau Doris Hünerfauth
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Titel:
 TDMI EMV
Messempfänger mit
645 MHz Echtzeitbandbreite u. 6GHz
Echtzeit Scanning.
 Anwendung der 645
MHz Echtzeitbandbreite u. 6GHz
für gestrahlte EMVmessungen.
Herr Dr. Stephan Braun
Exponate:
Herr Herbert Blum, Herr Raimund
Hüglin
Exponate:
Herr Andreas Bachmann
Exponate:
Herr Olaf Segler (GF)
Fa. Telemeter
Electronic
GmbH
Exponate:
Fa. Würth
Elektronik
eiSos Gruppe
- eiSos
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
Titel:
 Energy Harvesting
Demoboard (Lorandt
Herr Bernhard Strasser
Fa. MPE-Garry
GmbH
Exponate:
Herr Peter Fuchs
Fa. PIKATRON
GmbH
Fa. Langer EMVTechnik GmbH
Techn. Demonstrationen am
Ausstellerstand:
pk
components
GmbH
Fa. Würth
Elektronik
eiCan
Herr Carsten Stange, Frau
Susanne Kaule
Lehrstuhl-EMV Labor
Absorberhalle
Titel:
„Ausgewählte Experimente
zur EMV“
Fölkel)
Wireless Power Lösungen
mit 3W, 15W und 100W
(Jörg Hantschel)
 Effizienzvergleich
verschiedener Speicherinduktivitäten anhand der
Wärme-entwicklung in
einem DC/DC-Wandler
(Steffen Schulze, Andreas
Temmler)
 LED Technologien und
EMV-Maßnahmen.
Stichwörter: ReferenzDesign, Evaluations-Board,
Power-Module MagI³C
(Michael Bauer, Steffen
Wolf)
Exponate zum Thema:
„elektronische Entstör- und
Schutzbauelemente sowie Filter für
die Sicherstellung der EMV“
Herr Florian Wiedemann

Herr Torsten Seifert
Exponate zum Thema:
elektromechanische Bauelemente
Herr Toni Klösges
LehrstuhlEMV - Labor
Modenverwirbelungs
-kammer
Titel: „Ausgewählte Experimente
mit großen Feldstärken bei hohen
Frequenzen in der MVK“
Herr Dr.-Ing. Magdowski

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