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Optiken: DIN ISO 10110-7 im Vergleich
zu MIL scratch-dig“ teilnehmen
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Teilnahmegebühr Short Course
Mitglieder Innovationsnetze
Optische Technologien 170,00 €
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Im Preis enthalten sind Tagungsgetränke sowie eine Kursdokumentation. Bei Anmeldung erhalten Sie eine Anmeldebestätigung und die Rechnung. Stornierungen sind gemäß
den AGBs bis 21 Tage vor der Veranstaltung möglich. Danach
wird der volle Teilnahmebetrag fällig.
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Sauberkeit auf Optiken:
DIN ISO 10110-7
im Vergleich zu MIL
scratch-dig
27. September 2016
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OPTENCE
SHORT COURSE
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Die Frage nach „Sauberkeiten“ auf optischen Oberflächen,
heute korrekterweise Oberflächenunvollkommenheiten, in
früheren Ausgaben der DIN ISO 10110-7 und der alten
DIN 3140 auch Oberflächenfehler genannt, führt oft zu
Fragestellungen der richtigen Einschätzung und Beurteilung.
Insbesondere wenn in diesen Zusammenhang auch Angaben
nach „scratch/dig“, der neuen amerikanischen Norm
ANSI/OEOSC OP1.002, bzw. der älteren Militärnorm MIL-PRF13830B auftreten. Beide Angabesysteme finden in der Welt
der Optik Anwendung.
Kursinhalte | Dienstag, 27. September 2016
Zu den Oberflächenunvollkommenheiten zählen örtlich
begrenzte Defekte wie Kratzer, Löcher, Werkzeugabdrücke,
Beschichtungsmängel und Partikel, sowie Kratzer beliebiger
Länge und Randaussprünge.
2. ANSI/OEOSC OP1.002
American National Standard for – Optics and Electro-Optics
Instruments – Optical Elements and Assemblies – Appearance
Imperfections
– Begriffe und Definitionen
– Anforderungen
Die DIN ISO 10110-7 macht Angaben zu der geometrischen
Größe, während die ANSI/OEOSC OP1.002 bzw. die MIL-PRF13830B sich auf die Sichtbarkeit beziehen. Dies sind zwei
unterschiedliche physikalische Eigenschaften, die nicht direkt
miteinander vergleichbar sind. Sodass eine direkte Umrechnung eigentlich nicht möglich ist und daher oft auch Fragen
bezüglich der Vergleichbarkeit oder der Auslegung entstehen.
In dem Workshop werden die DIN ISO 10110-7 und die
ANSI/OEOSC OP1.002 bzw. MIL-PRF-13830B vorgestellt und
ihre Angaben erläutert. Es wird die Messnorm DIN ISO 14997
besprochen und eine näherungsweise Umrechnung zwischen
ANSI bzw. MIL und DIN vorgestellt.
Zielgruppe: Techniker, Meister, Ingenieure, die Zeichnungen
für optische Komponenten erstellen, diese spezifizieren, einkaufen oder prüfen.
Der Kurs versetzt Sie in die Lage:
Angaben zu Oberflächenunvollkommenheiten zu verstehen
und anzuwenden.
Die richtige Anwendung einzuschätzen und zu beurteilen.
Angaben nach DIN ISO bzw. ANSI / MIL zu vergleichen und
umzusetzen.
Die Messung von Oberflächenunvollkommenheiten nach
DIN ISO 14997 zu verstehen.
Beginn: 8.00 Uhr
1. DIN ISO 10110-7
Optik und Photonik – Erstellung von Zeichnungen für optische
Elemente und Systeme – Teil 7: Oberflächenunvollkommenheiten
– Anwendung
– Begriffe
– Angaben
3. MIL-PRF-13830B
Performance specification – Optical components for fire control
instruments; General specification governing the manufacture,
assembly, and inspection of
– scratch
– dig
4. Vergleichbarkeit bzw. näherungsweise Umrechnung
5. DIN ISO 14997
Optik und Photonik – Prüfverfahren für Oberflächenunvollkommenheiten optischer Komponenten
Ende: ca. 11.00 Uhr
Motive: Dr. Thomae, Leica Microsystems CMS GmbH
Der Kurs findet im Rahmen der 6. Wetzlarer Herbsttagung
„Moderne Optikfertigung“ statt.
Welche aktuellen Themen der Optikfertigung beschäftigen
die Firmen? Neben den klassischen Themen wie z. B. die
Verbesserung der Präzision, Toleranzen, Beschichtungen
und Messgenauigkeiten sind es Herausforderungen in der
Automation, Effizienz in Kosten und Rohstoffen und in der
Digitalisierung der Produktion.
Das Programm umfasst in diesem Jahr Vorträge zu den
„klassischen Fragestellungen“, einen Themenblock zu innovativen Ansätzen mit Marktreife und einen abschließenden
Block, der zukünftige Perspektiven in der Optikfertigung
aufzeigt.
Ergänzt wird das Vortragsprogramm durch eine Industrieausstellung im Foyer der Stadthalle, Firmenbesichtigungen
und eine Abendveranstaltung.
Schauen Sie mit uns „über den Tellerrand“ des täglichen
Geschäfts, holen Sie sich Anregungen und pflegen Sie Ihre
Kontakte in der Branche!
Referent
Dr. Manfred Thomae arbeitet bei der Firma Leica Microsystems
CMS GmbH, Wetzlar, im Leica Optic Center. Er ist seit 2002 Mitarbeiter und Projektleiter im DIN Arbeitsausschuss NA027-01-02
und seit 2008 im ISO TC 172 SC1, welche die Normen ISO 10110
erstellen und verausgaben.
Veranstaltungsort
Hotel Wetzlarer Hof · Obertorstraße 3 · 35578 Wetzlar
Seminarraum Siena-Colchester
Anmeldung zur Tagung mit separatem Flyer oder unter
www.cetip-optence.de

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