試料中の微量金属元素の分析方法 吉村@Canon <1>ICP-MS:誘導結合プラズマイオン源質量分析装置 高周波電力で発生させたフレーム状の放電 で、試料をイオン化したのち、質量分析にか け、含有元素を分析。 <2>フレームレス原子吸光法 高電流により黒鉛炉の試料を原子化し、そ の原子蒸気が特有の波長の光を吸収する 現象を利用 。 <検出限界> Co :1ppt Fe : 1ppb 定量性:○ イメージング:× <検出限界> Ni : 1ppb Cr : 0.1ppb Fe : 100ppt 定量性:○ イメージング:× <3>二次イオン質量分析(TOF-SIMS/dynamic-SIMS) Ar+等の一次イオンを試料に照射し、放出さ れる試料の二次イオンを質量分析。固体表 面分析(元素分析)に用いられる。 <検出限界> 100ppt ~ 100ppm 定量性:△ イメージング:○ (空間分解能:1~10μm) 試料中の微量金属元素の分析方法 吉村@Canon <進め方> ・先ず、最初の段階としては定量性の高いICP-MS若しくは、 原子吸光法で培養質、培養細胞の中の金微量属元素を分析 ・研究フェーズが進み、細胞の繁殖や遺伝子導入の状態と微量 金属元素との相関をみる必要が出てきた場合には、イメージング 分析(元素マッピング)が可能なSIMS(TOF- or dynamic)を利用 <測定試料> ①基板+培地+細胞 ②基板 +培地+細胞(incubation) ③基板+培 地+細胞+Electroporation ④基板+培地(→①のref.) ⑤基板+培地+ (incubationと同条件) ⑥基板+培地+Electroporation (パルス電流が金属溶出に作用しているか?) <注意点> ・ICP-MS/原子吸光法 →培地/細胞回収時に折れた ナノ・ニードルの混入 ・SIMS →非破壊的分析ではあるが、 高真空中での分析のため 細胞自体は死んでしまう。
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